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3李女士
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目錄:廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司>>元器件篩選及失效分析>>光電器件及傳感器>> 光電子器件LED失效分析
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更新時(shí)間：2024-11-06 13:41:44瀏覽次數(shù)：1282評(píng)價(jià)
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李女士
服務(wù)范圍
光電子器件LED失效分析：LED芯片、LED支架、LED封裝膠、銀漿、鍵合線、LED燈珠（COB、LAMP、TOP、CHIP）、LED燈具、燈具驅(qū)動(dòng)電源。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
● GB/T15651-1995半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路：光電子器件（國家標(biāo)準(zhǔn)）
● GB7000系列燈具國家標(biāo)準(zhǔn)（強(qiáng)制性）
● GB7000.5道路域街路照明燈具安全要求
● GB/T9468-1988道路照明燈具光度測(cè)試
● GB/T9468-2008燈具分布光度測(cè)測(cè)量的一般要求
● GB/T5700-2008《照明測(cè)量方法》標(biāo)準(zhǔn)
檢測(cè)項(xiàng)目
（1）分析大類：成本分析、競(jìng)品分析、失效分析。
（2）常?檢測(cè)項(xiàng)目：導(dǎo)熱能力檢測(cè)，光電參數(shù)檢測(cè)，氣密性檢測(cè)、可疑污染元素檢測(cè)，塑封料、鍍銀層、銅基板、鍵合線等材料質(zhì)量檢測(cè)。
（3）常?失效模式分析：硫化、掉電極、漏電、過電應(yīng)力、鍵合異常、鍍層異常、封裝結(jié)合性變差、散熱能力變差。
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
光電子器件LED失效分析：國家在5G通信領(lǐng)域的LED正在取代傳統(tǒng)節(jié)能燈、鹵素?zé)舸罅繎?yīng)用于民用照明、城市亮化工程。市場(chǎng)規(guī)模的無限放大以及市場(chǎng)價(jià)格的不斷降低，造成市場(chǎng)上LED燈珠質(zhì)量參差不齊。降低生產(chǎn)原材料成本的同時(shí)如何不斷提高產(chǎn)品質(zhì)量是LED行業(yè)一直面臨的問題。
我們的優(yōu)勢(shì)
通過對(duì)各種型號(hào)LED燈珠大量、長(zhǎng)時(shí)間的AEC-Q環(huán)境老化試驗(yàn)，以及市面上各種LED產(chǎn)品質(zhì)量異常根因分析案例，廣電計(jì)量積累了LED領(lǐng)域全面的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)，以及LED上中下游全產(chǎn)業(yè)鏈常?問題的經(jīng)驗(yàn)，可幫助企業(yè)根據(jù)失效機(jī)理，指導(dǎo)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí)。
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