車規(guī)功率模塊AQG324認(rèn)證服務(wù) 參考價(jià)：面議
AQG324是ECPE相關(guān)工作組基于LV324測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，為汽車電力電子轉(zhuǎn)換單元(PCUs)用功率模塊推出的認(rèn)證指南。其中包含QM模塊測(cè)試部分，QC模塊特性測(cè)試部...
車規(guī)級(jí)電子元器件AEC-Q認(rèn)證測(cè)試 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量出具具有公信力的車規(guī)級(jí)電子元器件AEC-Q認(rèn)證測(cè)試報(bào)告，是國內(nèi)一家已完成AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q104、AECQ...
X-ray無損檢測(cè),元器件失效根源分析 參考價(jià)：面議
X-ray無損檢測(cè),元器件失效根源分析是一種發(fā)展成熟的無損檢測(cè)方式，目前廣泛應(yīng)用在物料檢測(cè)（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA...
氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn) 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量積累了大量氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可開展氟油介質(zhì)的液態(tài)溫沖試驗(yàn)，轉(zhuǎn)換時(shí)間不超過10s，溫度范圍為-70℃至150℃。能夠覆蓋JEDEC、MIL、G...
錫須檢查,元器件及裝備失效分析 參考價(jià)：面議
錫須是從元器件焊接點(diǎn)的錫鍍層表面生長(zhǎng)出來的一種細(xì)長(zhǎng)的錫單晶，錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電，以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計(jì)量錫須檢查,元器件及裝備失效分...
離子清潔度測(cè)試,裝備失效分析檢驗(yàn) 參考價(jià)：面議
離子清潔度通常是指線路板的離子清潔度，由于印刷線路板的各種材料在清洗工藝時(shí)造成離子殘留，會(huì)影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。最常見的離子污染導(dǎo)致的問題分別是表面腐蝕...
焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè),元器件失效測(cè)試 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量擁完整的剪切力拉力試驗(yàn)設(shè)備、X射線透視（xray）試驗(yàn)設(shè)備，并擁有完整的染色測(cè)試方法經(jīng)驗(yàn)與豐富的分析人才，能夠高效準(zhǔn)確的提供焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè),元器件失效測(cè)試...
電子元器件篩選,元件失效分析測(cè)試 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量可滿足各等級(jí)電子元器件篩選,元件失效分析測(cè)試需求，提供電子元器件測(cè)試、評(píng)估、質(zhì)量保證的成套方案，幫助企業(yè)及時(shí)發(fā)現(xiàn)和剔除有缺陷、易發(fā)生早期失效的元器件，提...
電源模塊老煉與測(cè)試驗(yàn)證,失效分析機(jī)理檢驗(yàn) 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量電源模塊老煉與測(cè)試驗(yàn)證,失效分析機(jī)理檢驗(yàn)適應(yīng)于交直流電源、模塊電源、醫(yī)療電源等各類電源產(chǎn)品的測(cè)試。電源模塊老煉試驗(yàn)通過對(duì)電源模塊施加電應(yīng)力和熱應(yīng)力，在短...
電纜可靠性測(cè)試,元器件失效分析 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量電纜可靠性測(cè)試,元器件失效分析服務(wù)在電線電纜測(cè)試與鑒定方面具有深厚的積累，可提供電線電纜的一站式測(cè)試與鑒定服務(wù)。
破壞性物理分析,DPA測(cè)試 元器件失效分析 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量破壞性物理分析,DPA測(cè)試 元器件失效分析提供覆蓋被動(dòng)元件、分立器件和集成電路在內(nèi)的元器件破壞性物理分析(DPA)服務(wù)，其中針對(duì)先進(jìn)半導(dǎo)體?藝，具備覆蓋...
裝備定壽延壽,元器件失效分析 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量裝備定壽延壽,元器件失效分析采用特定專業(yè)的檢測(cè)設(shè)備，采用加速試驗(yàn)、?品分析、歷史數(shù)據(jù)收集等方式方法，輔以產(chǎn)品失效分析，即時(shí)發(fā)現(xiàn)貯存失效機(jī)理，并基于科學(xué)的...
超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測(cè)試 環(huán)境監(jiān)測(cè)與檢測(cè) 參考價(jià)：面議
超大規(guī)模集成電路動(dòng)態(tài)老煉與測(cè)試是確定或評(píng)估?規(guī)模集成電路的功能和電性能的過程，是驗(yàn)證設(shè)計(jì)、監(jiān)控?產(chǎn)、保證質(zhì)量、分析失效以及指導(dǎo)應(yīng)?的重要?段。
集成電路工程化量產(chǎn)測(cè)試,失效機(jī)理分析 環(huán)境監(jiān)測(cè)與檢測(cè) 參考價(jià)：面議
廣電計(jì)量集成電路工程化量產(chǎn)測(cè)試,失效機(jī)理分析，擁有經(jīng)驗(yàn)豐富的IC測(cè)試技術(shù)開發(fā)團(tuán)隊(duì)，可提供各類芯?的測(cè)試方案開發(fā),測(cè)試硬件開發(fā),測(cè)試程序開發(fā)與調(diào)試,小批量測(cè)試,應(yīng)...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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