束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
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詳細(xì)摘要： SKYSCAN2214 CMOS版是Bruker新推出的一代全新納米級三維X射線顯微鏡（XRM），除了保留上一代SKYSCAN2214 ＜500nm的真正三維空...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2025-07-03 在線留言
詳細(xì)摘要： X4 POSEIDON 是的高分辨率三維 X 射線成像系統(tǒng)，它建立在我們久負(fù)盛名的 SKYSCAN 1272 和 SKYSCAN 1275 系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。...
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詳細(xì)摘要： PHI nanoTOF3+，的多功能TOF-SIMS具有更強(qiáng)大的微區(qū)分析能力，更加出色的分析精度
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詳細(xì)摘要： ADEPT-1010 專為淺層半導(dǎo)體注入和絕緣薄膜的自動分析而設(shè)計(jì)，是大 多數(shù)半導(dǎo)體開發(fā)和支持實(shí)驗(yàn)室的常用工具。
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詳細(xì)摘要： Freiberg Instruments 開發(fā)的X射線輻照儀，是一款單獨(dú)運(yùn)行的定量輻照設(shè)備，可與光釋光/熱釋光測年設(shè)備（如：lexsyg），順磁測年設(shè)備（如：M...
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詳細(xì)摘要： PHI公司的PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺設(shè)計(jì)的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設(shè)備能分析納米級特征區(qū)域,超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)表界面的元素態(tài)和化學(xué)態(tài)信...
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詳細(xì)摘要： PHI 硬X射線光電子能譜儀，下一代透明發(fā)光材料使用直徑約為10nm~50nm 的納米量子點(diǎn)(QDs)，結(jié)合使用 XPS(Al Ka X射線)和 HAXPES(...
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詳細(xì)摘要： 液滴形狀分析儀 – DSA25 是一款可靠的接觸角測定儀器，簡單易用。從簡單潤濕性測試到準(zhǔn)確測定表面自由能，DSA25 能為分析表面潤濕和粘附提供靈活的選擇，結(jié)...
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詳細(xì)摘要： PDF-5+ 2025版數(shù)據(jù)庫，所收錄物相的標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片涵蓋約50多種科學(xué)研究領(lǐng)域，如電池材料、熱電材料、超導(dǎo)材料、金屬材料、陶瓷材料、礦物材料、金屬合金、藥物...
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詳細(xì)摘要： PDF-4 Axiom 2025版數(shù)據(jù)庫，所收錄物相的標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片涵蓋約多種科學(xué)研究領(lǐng)域，如電池材料、熱電材料、超導(dǎo)材料、金屬材料、陶瓷材料、礦物材料、金屬合金...
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詳細(xì)摘要： Omega/Theta XRD用于超快速的晶體定向、生產(chǎn)中的晶體排列、質(zhì)量控制、搖擺曲線測量、材料研究等。SiC | Si| AlN | GaAs | Quar...
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詳細(xì)摘要： 晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)用于全自動分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測定等。Si | SiC | Al...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀（RESmap ）在對低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge |...
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詳細(xì)摘要： 測量搖擺曲線意味著在Theta-scan模式下進(jìn)行測量，這需要一個(gè)測角儀。一個(gè)雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發(fā)散度。然而，其副作用是強(qiáng)烈的強(qiáng)度降低。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 晶錠XRD有著的XRD系統(tǒng)，用于單晶晶錠的自動定向、傾斜和對準(zhǔn)研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其...
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詳細(xì)摘要： 在晶圓片的注入和光刻過程中，需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過程中，晶片必須正確地對準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此，檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。
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詳細(xì)摘要： Mapping面掃臺允許使用受控的網(wǎng)格模式來探索整個(gè)樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉(zhuǎn)盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據(jù)用戶定...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 靈活的OEM少子壽命測試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測量，從單晶硅磚到多晶硅磚，從生長的硅片到不同層或金屬化的硅片的過程控制。標(biāo)準(zhǔn)的軟件接口，便于連接到許多...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 低成本桌面單點(diǎn)測量硅片或晶磚，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品，無需內(nèi)置自動化。可選手動操作的z軸厚度高達(dá)156毫米的硅磚樣品，高達(dá)156毫米硅磚，結(jié)果可...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： MDPmap被設(shè)計(jì)成一個(gè)緊湊的臺式非接觸電學(xué)表征工具，用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)（μ-PCD）下，在一個(gè)寬的注入范圍內(nèi)測量參數(shù)，如載流子壽命、光...
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