儀器概述

針對(duì)礦山尾礦中微量銀元素測定的技術(shù)難題，提出了一種基于超短光路原理的能量色散X熒光能譜快速檢測方法。該方法可提高元素測量分辨率、提高樣品分析效率、降低光管功率、延長儀器使用壽命。該儀器能譜系統(tǒng)優(yōu)化了濾片以及探測器屏蔽物等設(shè)計(jì)，準(zhǔn)直器采用對(duì)X射線基本無散射的聚四氟乙烯，達(dá)到微量銀元素的檢測要求。在實(shí)際尾礦測試中，銀的檢出限可達(dá)0.1mg.kg-1。

技術(shù)參數(shù)

儀器供電：AC220V±10%，50Hz±0.2Hz；

? X光管管壓：0-65kV可調(diào)；

? X光管管流：0-1mA可調(diào)；

? 探測器：SDD探測器,分辨率優(yōu)于135eV(@5.89KeV)；

? 整機(jī)分辨率優(yōu)于89eV(@5.89KeV)；

? 校準(zhǔn)方式：采用標(biāo)樣校準(zhǔn)曲線；

? 測量對(duì)象狀態(tài)：粉末壓片；

? 儀器額定功率：100W；

? 工作環(huán)境溫度：0-40 ℃；

? 環(huán)境濕度：≤80%；

? 檢出限：0.1ppm；

? 精密度：≤5%；

? 儀器尺寸：500(D)?440(W)?340(H)mm；

? 儀器重量：≤50kg；

? 檢測時(shí)間：2~5分鐘精確定量測試。

性能特點(diǎn)

? 采用目電制冷硅漂移Fast-SDD半導(dǎo)體探測器，分析元素多，分辨率高；

? 采用全數(shù)字化譜分析技術(shù)，計(jì)數(shù)率高，無漏記，穩(wěn)定性好；

? X光管激發(fā)樣品，無放射性，無毒無污染，取得國家環(huán)保部門安全豁免，安全可靠；

? 超短光路設(shè)計(jì)，提高元素測量分辨率，提高樣品了分析效率，降低了光管功率，延長了儀器使用壽命；

? 準(zhǔn)直器采用對(duì)X射線基本無散射的聚四氟乙烯，微量銀元素的檢出限可達(dá)0.1ppm；

? 開放式工作曲線標(biāo)定平臺(tái)，可量身定做物質(zhì)的分析和控制方案；

? 全中文的windows應(yīng)用軟件，操作簡單；

? 人性化設(shè)計(jì)，一體化結(jié)構(gòu)，可適應(yīng)不同環(huán)境，24小時(shí)連續(xù)工作，故障率低。

? 嚴(yán)格的數(shù)據(jù)庫管理系統(tǒng)，支持?jǐn)?shù)據(jù)的歷史查詢；