安徽澤攸科技有限公司
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
產(chǎn)品型號：所在地：銅陵市更新時(shí)間：2025-07-09 在線留言
詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 Bar 800 ℃的端觀測條件。
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，更易封裝液體。
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉(zhuǎn)樣品桿，同時(shí)具備β角傾轉(zhuǎn)以及360水平旋轉(zhuǎn)的功能，可以在透射電子顯微鏡中多自由度高精度旋轉(zhuǎn)樣品。
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時(shí)也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡多孔樣品桿，多孔樣品桿使研究者們可以將最多三個(gè)樣品同時(shí)置入透射電鏡中，大大提高了透射電鏡的使用效率。
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)（T-staion）由內(nèi)置進(jìn)口分子泵組、樣品桿預(yù)抽室及觸摸顯示屏組成。適用于各品牌透射電鏡樣品桿，保證樣品桿長...
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詳細(xì)摘要： PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)，該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境...
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詳細(xì)摘要： 原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境...
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡原位光電性質(zhì)測試系統(tǒng)（非定量力+電+光+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實(shí)現(xiàn)光電測量或者CL...
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡原位低溫電學(xué)測試系統(tǒng)（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成低溫環(huán)境控制單元，從而實(shí)現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位低溫...
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詳細(xì)摘要： 透射電鏡原位力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng)（定量力+電+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成納牛力傳感器，實(shí)現(xiàn)高精度的力學(xué)及電學(xué)測量。
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)，同時(shí)集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量的力學(xué)測量。
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
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詳細(xì)摘要： PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
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詳細(xì)摘要： 透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱+加熱）同時(shí)集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量的力學(xué)測量。實(shí)現(xiàn)了透...
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