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TH2638 高速精密電容測(cè)量?jī)x

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

測(cè)試頻率:***1MHz時(shí)帶偏移（±1%，±2%)精度:容量c:±0.07%，損耗D:±0.0005測(cè)試速度:***快2.3ms/次，5檔速度選擇11檔分選，PASS/FAIL指示，檔計(jì)數(shù)功能超穩(wěn)定的ESR 1u讀數(shù)分辨率10點(diǎn)列表掃描，可對(duì)頻率、電壓進(jìn)行掃描可替代Agilent E4981AV、I測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能低阻抗測(cè)試，信號(hào)電平補(bǔ)償功能內(nèi)建比較器，11檔分選內(nèi)部文件存儲(chǔ)和外部u盤文件保存......

詳細(xì)介紹

TH2638 是用于陶瓷電容生產(chǎn)測(cè)試的一款電容表。TH2638 可用于在頻率 100Hz，120Hz， 1kHz，10kHz，40kHz, 100kHz，1MHz 和測(cè)試信號(hào)電平（0.1V ～1V）對(duì)陶瓷電容作出評(píng)估。

TH2638 可提供在所有頻率下基本精度為±0.07%（C）、±0.0005（D）的 C-D 測(cè)量，且在每個(gè)范圍內(nèi)都具有七位數(shù)的分辨率（損耗因數(shù)分辨率為 1 ppm）。

利用其內(nèi)置的比較器，TH2638 可輸出比較/判定結(jié)果，用于將元件分類為***多 10 個(gè)分檔（BIN）。此外，通過使用處理器接口和掃描儀接口選件，TH2638 很容易與元器件處理器、掃描儀和系統(tǒng)控制器結(jié)合使用，以使元器件測(cè)試、分類和質(zhì)量控制數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化。

GPIB/LAN/USB 接口是 TH2638 上的標(biāo)準(zhǔn)接口（TH2638A/B/C 不包含 GPIB 和 Scanner 接口），并支持自動(dòng)測(cè)試。

應(yīng)用

■ 電解電容器高速高精度測(cè)試

■ 陶瓷電容器高速高精度測(cè)試

■ 薄膜電容器高速高精度測(cè)試

■ 各種電容器生產(chǎn)線高速測(cè)試

■ 高速自動(dòng)化生產(chǎn)線集成測(cè)試

■ 半導(dǎo)體、器件、材料分布電容測(cè)試

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號(hào)	TH2638
顯示	4.3 TFT LCD顯示器480×272
基本測(cè)量準(zhǔn)確度	容量C: 0.07%，損耗D：±0.0005
測(cè)試頻率	100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,100kHz,1MHz,1MHz±1%,1MHz±2%
AC信號(hào)電平	0.1V—1V,分辨率0.001V
信號(hào)源輸出阻抗	0.3Ω、1.5Ω、10Ω根據(jù)阻抗自動(dòng)調(diào)整
測(cè)試參數(shù)	Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs
測(cè)試速度(ms/次)	2.3ms,2.5ms,3ms,3.3ms,10ms
測(cè)試電容量程分布	1pF,2.2pF,4.7pF,10pF,22pF,47pF,100pF,220pF,470pF,1nF,2.2nF,4.7nF,10nF,22nF,47nF, 100nF,220nF,470nF,1μF,2.2μF,4.7μF,10μF,22μF,47μF,100μF,220μF,470μF, 1mF
列表掃描	10點(diǎn)，掃描參數(shù): 測(cè)試頻率、AC電壓
通用功能	串、并聯(lián)等效模式，測(cè)試電纜長(zhǎng)度：0、1m，平均:1-255次，校準(zhǔn):開路、短路、負(fù)載，ALC功能，量程選擇:自動(dòng)、手動(dòng)，觸發(fā)模式:INT、MAN、EXT、BUS，觸發(fā)延時(shí)：0-999s，鍵盤鎖定功能
功能	接觸檢查功能，同步信號(hào)源功能，頻率偏移功能（TH2638）、Cs-Rs-Ls（TH2638A）低輸出阻抗，電平補(bǔ)償功能，一鍵截屏功能、一鍵記錄功能
比較器	11檔分選, PASS/FAIL指示,檔計(jì)數(shù)功能
存儲(chǔ)	40組儀器內(nèi)置測(cè)試設(shè)定文件、USB存儲(chǔ)器：40設(shè)定文件、GIF圖像、CSV數(shù)據(jù)文件
接口	RS232C,LAN,USBCDC,HANDLER,GPIB,SCANER