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深圳九州工業(yè)品有限公司
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使用 JOG 旋鈕輕松操作 ?厚度、溫度、PN 輸入（RT-70V 測試儀）
具有厚度和溫度校正功能（對于硅）
測量臺
1. RG-7C：電動探針升降自動平臺
2. RG-5：帶手動桿的探頭上/下平臺
3. RG-7S：玻璃基板/薄膜樣品的X-Y平臺
4.TS-7D：手持式探頭型 *可選配載物臺。
測量規(guī)格
測量對象
半導體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）
擴散樣品
其他（*請聯(lián)系我們）
目標尺寸
*取決于組合測量臺類型。
圓形：最大 300 毫米（12 英寸），方形：最大 730 x 920 毫米。
測量范圍
[電阻率（比電阻）] 1μ ~ 300kΩ cm
[表面電阻] 5m ~ 10MΩ/sq
[電阻率（比電阻）] 1 μ 至 300 kΩ cm
[表面電阻] 5 m 至 10 MΩ/sq
產(chǎn)品尺寸
RT-70V：W250×D330×H130mm
約7kg
