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非接觸式表面輪廓測量儀

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更新時間：2023-05-09 15:15:53瀏覽次數(shù)：392次

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產(chǎn)品簡介

非接觸式表面輪廓測量儀2013-09-1616:23:59無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果

詳細(xì)介紹

非接觸式表面輪廓測量儀2013-09-16 16:23:59

無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨

CCI光學(xué)裝置

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無論對分析速度的要求有多高，我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量極其光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。
CCI光學(xué)裝置與光學(xué)研究人員和科學(xué)家的專業(yè)知識保持與時俱進(jìn)，能滿足光學(xué)領(lǐng)域的嚴(yán)苛測量要求。 CCI光學(xué)裝置將強(qiáng)大的尺寸及粗糙度分析軟件與的工程設(shè)計(jì)融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗(yàn)工具。 CCI的薄膜厚度測量功能，進(jìn)一步完善了為光學(xué)工業(yè)而設(shè)計(jì)的出色計(jì)量包裝。
2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
全量程0.1埃的分辨率
輕松測量反射率為0.3% - 99%的各種表面
RMS重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
多語言版本的64位控制和分析軟件

關(guān)鍵詞：輪廓測量儀光學(xué)輪廓儀輪廓儀

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