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透射電子顯微鏡 (Transmission Electron Microscope)

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更新時間：2023-03-30 17:48:43瀏覽次數(shù)：703次

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產(chǎn)品簡介

廠商：美國FEI公司型號：TecnaiF20到貨日期：2007年9月技術(shù)指標：加速電壓：200kV電子槍：熱場發(fā)射電子源，能量分辨率0.7eV

詳細介紹

廠商：美國FEI公司
型號：Tecnai F20
到貨日期： 2007年9月

技術(shù)指標：

加速電壓：200kV 電子槍：熱場發(fā)射電子源，能量分辨率£0.7eV；
點分辨率：0 .24 nm；信息分辨率：0 .14 nm；線分辨率：0 .102 nm；
放大倍數(shù)：25～1,030,000倍 STEM高角環(huán)形暗場像分辨率：0 .19 nm；
X射線能譜儀的元素分析范圍：Be4～U92

主要用途：

透射電子顯微鏡用來研究各種材料的物質(zhì)內(nèi)部顯微結(jié)構(gòu)，配合能譜儀附件可以對各種元素進行微區(qū)成分分析，提供了從微米直到原子尺度直接觀察形貌、界面及晶體缺陷的技術(shù)，廣泛應用于材料、物理、生物、化學、光電子及納米技術(shù)等領(lǐng)域。主要用途如下：觀察材料的內(nèi)部顯微結(jié)構(gòu)，分析粒徑、相組成、生長取向，分析晶體及晶界的缺陷等；進行材料微區(qū)成分分析，及元素的線或面分布；利用高角環(huán)形暗場像，可以觀察輕重元素的分布。

關(guān)鍵詞：能譜儀透射電子顯微鏡

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