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PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀

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更新時間：2022-08-25 11:44:21瀏覽次數(shù)：379次

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產(chǎn)品簡介

PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀是一種表面敏感的技術，提供表面分子，元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用飛行時間二次離子質譜分析。在理論上，該儀器可以在一個無限大的質量范圍內提供很高的質量分辨率（在實踐中通常是大約 10000amu）。

詳細介紹

PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀是一種表面敏感的技術，提供表面分子，元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用飛行時間二次離子質譜分析。在理論上，該儀器可以在一個無限大的質量范圍內提供很高的質量分辨率（在實踐中通常是大約 10000amu）。
PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質譜儀三次對焦飛行時間）是一種高傳輸、并行檢測儀器，其目的是由主脈沖離子束轟擊樣品表面所產(chǎn)生的二次離子可以得到*的收集狀態(tài)，并可同時用于有機和無機表面特征分析。
TRIFT分析儀的工作原理會把離子在光譜儀中不斷的重新聚焦。使二次離子質譜允許更多重大的實驗得以進行。主離子束的設計，允許經(jīng)由計算機控制去同時達到高橫向分辨率的成像和高質量的圖譜分辨率。
是第五代SIMS儀器，該儀器具有的時間飛行（TOF）分析儀，它擁有市場上TOF-SIMS儀器中zui大的角度和能量接受標準，實現(xiàn)了高空間分辨率質量分辨率和使用具有優(yōu)良離子傳輸能力的三重重點半球形靜電分析器。PHI TRIFT V nanoTOF還具有很高的能力，可以圖像具有非常復雜的幾何形狀的樣本而沒有陰影。