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二次離子飛行時間質(zhì)譜測試（TOF-SIMS）

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更新時間：2022-04-22 15:00:03瀏覽次數(shù)：529次

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產(chǎn)品簡介

儀器名稱：二次離子飛行時間質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）型號：德國IONTOFTOF.SIMS5檢測項目：（1）深度分辨率：幾個納米

詳細(xì)介紹

儀器名稱：	二次離子飛行時間質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）	型號：	德國IONTOF TOF.SIMS 5
檢測項目：	（1）深度分辨率：幾個納米；（2）空間分辨率：<一個微米；（3）質(zhì)量分辨率：m/m5000（4）檢測靈敏度：ppmppb；（5）絕緣層厚度為幾個微米的樣品質(zhì)譜分析
應(yīng)用范圍：	（1）樣品組分和雜質(zhì)元素縱向分布的深度剖析；（2）樣品組分和雜質(zhì)元素面分布的一維線掃描分析；（3）樣品組分和雜質(zhì)元素面分布的離子圖象；（4）多層薄膜樣品組分和雜質(zhì)元素分布及界面情況分析；（5）厚度為幾個微米絕緣層樣品的深度剖析
制樣要求：	粉末樣品50mg即可，塊狀樣品長寬1cm以內(nèi)，厚度5mm以內(nèi)。如果樣品比較容易氧化或者吸水請?zhí)崆奥?lián)系客服，需要真空封裝好提前預(yù)約時間測試。樣品在超高真空下必須穩(wěn)定，無腐蝕性。建議樣品用干凈玻璃瓶盛裝或鋁箔紙包裝。