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X射線光電子能譜儀（XPS測(cè)試）（變溫）

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

儀器名稱(chēng)：X射線光電子能譜分析儀（XPS）型號(hào)：ThermoScientificEscalab250Xi檢測(cè)項(xiàng)目：常規(guī)全譜

詳細(xì)介紹

儀器名稱(chēng)：	X射線光電子能譜分析儀（XPS）	型號(hào)：	Thermo Scientific Escalab 250Xi
檢測(cè)項(xiàng)目：	常規(guī)全譜，窄譜，UPS，俄歇譜，價(jià)帶譜，深度濺射（刻蝕），MAPPING,角分辨，原位，變溫
應(yīng)用范圍：	1.定性：元素種類(lèi)及價(jià)態(tài)信息 X-射線光電子能譜(XPS)可以定性檢測(cè)元素周期表中除H和He以外的幾乎所有元素; 2.定量：半定量，屬于表面靈敏型測(cè)試，探測(cè)深度小于10納米; 3.成像：元素XPS二維成像，200-800微米范圍。
制樣要求：	1.粉末測(cè)試需要量一般不小于0.2ml或者10mg，樣品需干燥; 2.固體樣品尺寸塊狀5*5mm，厚度盡量低于4mm，表面須平整，樣品需干燥; 3.液體樣須滴在鋁箔或者硅片等載體上烘干形成液膜，一般重復(fù)3-5次烘干滴液差不多即可測(cè)不到基底; 4.材料必須是無(wú)放射性、無(wú)毒性、無(wú)揮發(fā)性物質(zhì)(如單質(zhì)Na, K, S, P, Zn, Se, As, I, Te, Hg等); 5.磁性樣品(可以測(cè)試)請(qǐng)送樣時(shí)告知; 6.元素窄譜如果有特殊要求請(qǐng)備注，如果沒(méi)有特殊說(shuō)明，默認(rèn)測(cè)試峰，如果峰和其他元素的峰有重疊，默認(rèn)測(cè)試次強(qiáng)峰。需要掃特殊峰請(qǐng)備注。 7.小于1%的元素可能測(cè)不出明顯信號(hào)； 8.普通樣品測(cè)試一般包括一個(gè)全譜和含碳的五個(gè)以內(nèi)單元素精細(xì)譜；超過(guò)五個(gè)元素的按每個(gè)元素加收費(fèi)用；樣品不提供數(shù)據(jù)分析處理，如需要分析處理加收費(fèi)用； 9.其他問(wèn)題和特殊測(cè)試要求可在線溝通。