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聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線儀器名稱:場(chǎng)發(fā)射透射電鏡(TEM)型號(hào):TecnaiG2F30/F20JEOL-2100FFIB+球差校正電鏡檢測(cè)項(xiàng)目:形貌觀察(磁性、非磁樣品、生物樣均可)選區(qū)電子衍射(環(huán)衍射、點(diǎn)衍射)高分辨像(磁性、非磁樣品、生物樣均可)EDS能譜(點(diǎn)掃、線掃、面掃)明場(chǎng)、暗場(chǎng)Mapping球差電鏡應(yīng)用范圍:可以對(duì)各種材料的物質(zhì)內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察
儀器名稱: | 場(chǎng)發(fā)射透射電鏡(TEM) | 型號(hào): | Tecnai G2 F30/F20 JEOL-2100F FIB+球差校正電鏡 |
檢測(cè)項(xiàng)目: | 形貌觀察(磁性、非磁樣品、生物樣均可) 選區(qū)電子衍射(環(huán)衍射、點(diǎn)衍射) 高分辨像(磁性、非磁樣品、生物樣均可) EDS能譜(點(diǎn)掃、線掃、面掃) 明場(chǎng)、暗場(chǎng) Mapping 球差電鏡 | ||
應(yīng)用范圍: | 可以對(duì)各種材料的物質(zhì)內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察,電子衍射分析及高分辨電子顯微術(shù)研究,材料粒徑統(tǒng)計(jì),晶體結(jié)構(gòu)及晶體性能進(jìn)行研究,配合能譜儀可以對(duì)各種元素進(jìn)行定性、及半定量的微區(qū)分析,廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料、物理、生物、化學(xué)、環(huán)境、光電子等領(lǐng)域。 | ||
制樣要求: | 塊體樣品,要求樣品大小為直徑3mm的圓,厚度為200nm以下; 粉末和液體樣品,要求樣品能夠均勻分散在支持膜上并且干燥,粉末樣>0.01g,液體樣>5ml; 生物樣可做超薄冷凍切片制; 金屬樣、陶瓷樣、塊狀樣可以FIB制樣; 離子減薄需要樣品機(jī)械磨樣到100um。 有3D-TEM、EELS、STEM、超薄冷凍切片、FIB、鋨酸熏染制樣等需求可進(jìn)一步咨詢。 |
PS:送樣請(qǐng)附帶“委托測(cè)試單”。TEM測(cè)試要求模板(附本) 點(diǎn)擊下載
測(cè)試提示:
1.第三方檢測(cè),可開正規(guī)測(cè)試發(fā)票,附帶測(cè)試清單。
2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測(cè)試人員,測(cè)試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測(cè)或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷,測(cè)試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化;
3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細(xì)測(cè)試參數(shù)及條件。和測(cè)試人員充分討論,商定最終測(cè)試條件;
4.測(cè)試人員與顧客通過或郵件溝通,出現(xiàn)測(cè)試糾紛,郵件或記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請(qǐng)加和技術(shù)人員交流:。
5.杜絕測(cè)試、解析和合成違反國(guó)家相關(guān)法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。
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