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上海斯邁歐分析儀器有限公司
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使用Agilent 5110 VDV ICP-OES 對(duì)空氣 過(guò)濾器進(jìn)行多元素分析
2025-6-24 閱讀(3)
監(jiān)測(cè)工作場(chǎng)所空氣質(zhì)量的常規(guī)方法已經(jīng)開(kāi)發(fā)出測(cè)定空氣樣品中金屬和類(lèi)金屬污染物的標(biāo)準(zhǔn)方法。本研究采用 ICP-OES對(duì)通過(guò)微波消解制備的過(guò)濾介質(zhì)中的 44 種元素進(jìn)行定量分析。這些元素是標(biāo)準(zhǔn)方法HJ 777-2015、ISO 15202 和 ASTM D7035-16 中列出的元素。Agilent 5110 VDV ICP-OES 配備 AVS 7 切換閥和 SPS 4 自動(dòng)進(jìn)樣器。樣品間分析時(shí)間為 63 秒，且每個(gè)樣品僅消耗 21 L 氬氣。為實(shí)現(xiàn)更低的檢測(cè)限，對(duì)所有元素均使用軸向等離子體觀測(cè)。使用軸向觀測(cè)可能會(huì)導(dǎo)致需要校正復(fù)雜的背景結(jié)構(gòu)。
自動(dòng)化干擾校正將自動(dòng)化擬合背景校正 (FBC) 和快速自動(dòng)曲線擬合技術(shù) (FACT) 建模技術(shù)結(jié)合使用來(lái)校正復(fù)雜的背景結(jié)構(gòu)(圖 1)。FBC 能夠準(zhǔn)確校正簡(jiǎn)單及復(fù)雜的背景結(jié)構(gòu)，且無(wú)需進(jìn)行方法開(kāi)發(fā)。FACT 可校正等離子體中的光譜干擾并對(duì)復(fù)雜的背景結(jié)構(gòu)建模。
標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)分析方法 DL(表 1)均明顯低于 HJ 777-2015、ISO 15202 和 ASTMD7035-16 中規(guī)定的 MDL。CRM QC-TMFM-D 和 QC-TMFM-G均購(gòu)自美國(guó) High Purity Standards。表 1 顯示這些 CRM 的結(jié)果都在預(yù)期回收率的 ±10% 以內(nèi)。向樣品中加標(biāo)低濃度的各種元素，以確定回收率。如表 1 所示，這些回收率均在預(yù)期值的±10% 以內(nèi)。
長(zhǎng)期穩(wěn)定性為證明 5110 ICP-OES 在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行中的穩(wěn)定性和精密度，在 6 小時(shí)內(nèi)分析大約 350 份溶液(圖 2)。每 10 個(gè)樣品后測(cè)量一次 QC 溶液。所有元素的結(jié)果顯示：- 回收率在 ±10% 以內(nèi)- RSD 小于 2.1%(Te 除外，其 RSD 為 4%)
結(jié)論使用配備 AVS 7 切換閥的 Agilent 5110 VDV ICP-OES 能夠?qū)^(guò)濾介質(zhì)中的金屬進(jìn)行準(zhǔn)確的常規(guī)測(cè)量。AVS 7 和 VistaChip II 可提高分析效率，并在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行中保持優(yōu)異的穩(wěn)定性，同時(shí)大幅減少氬氣消耗量和樣品間分析時(shí)間。自動(dòng)化校正技術(shù) FBC 和 FACT，可簡(jiǎn)化方法開(kāi)發(fā)并準(zhǔn)確校正背景和光譜干擾。
