GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 低溫試驗方法
GB/T 2423.2-2008 高溫試驗方法
GB/T 2423.22-2008 溫度變化速率試驗方法
GJB 150.3A-2009 高溫試驗方法
GJB 150.4A-2009 低溫試驗方法
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法
JJF 1101-2003 環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準規(guī)范
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
- -70℃～-170℃任意溫度
- 30%以上
- 500升以內(nèi)均可輕松進實驗室，節(jié)約占地空間
- CFD的流體力學設(shè)計,風路循環(huán)更合理
環(huán)保在線