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秋山科技(東莞)有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第6年

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目視檢查燈YP-150I/YP-250I在液晶面板缺陷檢測(cè)上的運(yùn)用

時(shí)間:2023/12/7閱讀:753
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目視檢查燈YP-150I/YP-250I在液晶面板缺陷檢測(cè)上的運(yùn)用

液晶面板行業(yè)的崛起,帶動(dòng)面板質(zhì)檢需求的暴增。傳統(tǒng)的缺陷檢測(cè)主要由人眼辨別,這給企業(yè)把控生產(chǎn)質(zhì)量和提高生產(chǎn)效率,帶來巨大困難。有鑒于此,采用一種新型的面板質(zhì)量檢測(cè)方式來代替人工檢測(cè)是亟待解決的技術(shù)問題。

面板缺陷極易導(dǎo)致產(chǎn)品出現(xiàn)破碎

液晶面板生產(chǎn)過程中會(huì)概率性出現(xiàn)崩邊、破損、裂紋、劃痕等缺陷,如不及時(shí)發(fā)現(xiàn)并加以處理,進(jìn)入下道生產(chǎn)工序主設(shè)備,可能會(huì)在生產(chǎn)過程中在設(shè)備內(nèi)部發(fā)生玻璃破碎現(xiàn)象,從而必須進(jìn)行主設(shè)備停機(jī)檢修清理,導(dǎo)致停產(chǎn)經(jīng)濟(jì)損失。

基于機(jī)器視覺的液晶面板檢測(cè),可實(shí)現(xiàn)對(duì)液晶面板的各個(gè)生產(chǎn)工藝產(chǎn)生的缺陷進(jìn)行檢測(cè),包括Array(陣列)工藝,CF(彩膜)工藝,CELL(成盒)工藝,Module(模組)工藝,可實(shí)現(xiàn)對(duì)crack(裂紋),broken(破損),chip(崩邊),scratch(劃痕),burr(毛刺),drop(水滴)等缺陷的有效檢測(cè)區(qū)分。



圖片

液晶屏幕劃痕污點(diǎn)視覺檢測(cè)目的:

針對(duì)液晶屏進(jìn)行污點(diǎn)劃痕質(zhì)量檢測(cè),替代原有人工檢測(cè)方式進(jìn)行LCD屏質(zhì)量檢測(cè),判斷LCD屏表面是否有異物、劃傷、異色、凸包、凹痕、針孔、毛邊、亮點(diǎn)。
液晶屏污點(diǎn)劃痕質(zhì)量檢測(cè)是針對(duì)液晶屏進(jìn)行污點(diǎn)劃痕質(zhì)量檢測(cè),替代原有人工檢測(cè)方式。
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如圖1所示,采用線陣相機(jī)將LCD屏架設(shè)到運(yùn)動(dòng)平臺(tái)上,進(jìn)行LCD屏質(zhì)量檢測(cè),判斷LCD屏表面是否有異物、劃傷、異色、凸包、凹痕、針孔、毛邊、亮點(diǎn)。


YP-150I / YP-250I高亮度鹵素射鏡

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用于Si薄片,玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源,微小瑕疵也可被檢測(cè)出來

特點(diǎn)
1. 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
2. 使用鹵素?zé)糇鳛楣庠?,色溫高達(dá)3400°K,照光和顏色均一了穩(wěn)定強(qiáng)光的照射。
3. 由于冷鏡的使用,使得熱影響與常規(guī)鋁鏡相比較少1/2 到 1/3
4. 光束直徑由鏡片調(diào)整,30-50mm 之間調(diào)整
5. 底部開光,調(diào)整照明勘察器高度,操作簡(jiǎn)便,可控制光量。




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