超低能鍺探測器

應用
• XRF
• XAS (XAFS, EXAFS,
XANES)
• X-射線譜學

描述：
Canberra 的超低能鍺探測器(Ultra-LEGe) 把Ge 探測器的性能范圍延伸到幾百ev，提供過去的半導體
探測器所不能比擬的分辨率、峰形和峰/本底比。超低能鍺探測器保持了鍺探測器固有的高能效率特性，由于原子數(shù)(Z)高加上相對地高的厚度（5-10mm），因而能夠轉(zhuǎn)換比市場上任何單光子探測器更廣的能量范圍。下面的圖2 把一個5 mm 厚的Ge 探測器X 射線譜高能端的效率與典型的基于硅的探測器作比較。通常的鍺探測器－包括專門為低能應用制造的探測器－3keV 以下峰形和效率都很差。這曾經(jīng)被認為是鍺探測器的基本特性，使鍺探測器不能應用于大多數(shù)分析X 射線的應用。Canberra 發(fā)明的制造技術(shù)消除了這些問題。由此產(chǎn)生的超低能鍺探測器提供鍺探測器本征效率和分辨率的優(yōu)勢，而沒有通常鍺探測器的缺點。

性能：
由于Canberra的探測器結(jié)構(gòu)適用于所有低能鍺探測器，各種尺寸的超低能鍺探測器都能夠提供的性能。例如，100mm2的超低能鍺探測器在5.9keV的分辨率小于150eV（FWHM），而同樣尺寸的Si ( Li )探測器的分辨率超過160eV ( FWHM )。Ultra-LEGe探測器的主要優(yōu)點是它非常低的電容，這意味著即使在非常短的成形時間，該探測器也能保持好的能量分辨率。例如，一個50mm2 探測器以0.1 微秒成形時間和100 kcps 計數(shù)率計數(shù)時，在5.9 keV 處典型分辨率為300 eV (FWHM)。這使得Ultra-LEGe理想地適用于高計數(shù)率XRF和回旋加速器應用。Ultra-LEGe探測器表現(xiàn)出很好的峰-本底比(P/B)。.P/B-比定義為5.9 keV 處峰高除以1- 4 keV能量范圍內(nèi)計數(shù)的平均，一個Ultra-LEGe探測器的P/B典型值2000:1.。在圖 1 中，Ultra-LEGe 超低能鍺探測器對一個來自NIST22063 薄膠片標準類的X 射線譜表現(xiàn)出的分辨率、峰形和低本底噪聲。這一譜是用裝備聚合物窗的超低能鍺探測器獲取的，使用電子掃描顯微鏡激發(fā)的。