LKTC--2001涂層測(cè)厚儀的使用說明及應(yīng)用范圍

一、儀器特點(diǎn)

LKTC系列涂層測(cè)厚儀是的結(jié)晶，采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測(cè)量，體積小，重量輕，且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示等功能，其性能達(dá)到同類儀器的*水平。

二、應(yīng)用范圍

本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無損的測(cè)量鐵磁性材料上的非磁性材料涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

三、工作原理

LKTC系列涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的閉合，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料的距離，即涂層厚度。

四、技術(shù)參數(shù)

LKTC--2001涂層測(cè)厚儀的使用說明及應(yīng)用范圍

注意：臨界厚度小于工件鐵基厚度大于1mm時(shí)，其膜層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。

第二章  應(yīng)用方法

LKTC--2001涂層測(cè)厚儀的使用說明及應(yīng)用范圍

一、開機(jī)前的準(zhǔn)備

打開電池倉(cāng)蓋，把1節(jié)5#電池裝入電池倉(cāng)，電池正負(fù)極對(duì)正并壓緊彈簧，壓好電池倉(cāng)蓋。電池倉(cāng)蓋前的“舌頭”須先插入電池倉(cāng)前下方的小方孔內(nèi)，壓下并稍后退再向前推緊。

二、開機(jī)與關(guān)機(jī)

（1）把機(jī)殼上端蓋左側(cè)的電源開關(guān)打開（右邊是開），開始工作1～2秒后液晶屏順序顯示儀器現(xiàn)行校正樣片的序號(hào)和標(biāo)準(zhǔn)公稱值（上3位為序號(hào)，下4位為標(biāo)稱值）。并伴有聲（蜂鳴器）、光（指示燈）指示。其后液晶屏下4位顯示“8888”，此時(shí)儀器自檢。數(shù)秒后液晶屏上3位顯示“1--”，表示儀器自檢完畢，可進(jìn)行測(cè)量或校正了。

（2）儀器停止使用時(shí)須關(guān)上開關(guān)（左邊 方向）。

三、儀器主要功能

（1）校正一利用標(biāo)準(zhǔn)試片校正

用戶可每日或每班校正一次。亦可在使用中發(fā)現(xiàn)測(cè)量偏差較大時(shí)校正。

本儀器有一片長(zhǎng)方形鐵基和1#～5#五片標(biāo)準(zhǔn)試片。利用該鐵基和標(biāo)準(zhǔn)試片可對(duì)儀器校正。用此鐵基進(jìn)行的校正可檢測(cè)儀器正常工作與否，或校正后測(cè)量精度要求不太嚴(yán)格的工作。

對(duì)下述情況需用戶自制鐵基：a.測(cè)量精度要求甚高；b.材質(zhì)（或?qū)Т怕剩┡c本儀器鐵基相差甚遠(yuǎn)；c.工作幾何形狀復(fù)雜；d.工作厚度在2㎜以下。

用下述方法自制鐵基：a.用與被測(cè)工件厚度相同、材質(zhì)相同的鋼材做成方形或圓形鐵基，要求表面平整光潔、無涂層或銹蝕，尺寸不小于本儀器所備鐵基尺寸；b.用已清除污物、表面光潔、無涂層的工件毛坯作鐵基。以同種工件毛坯作鐵基正是的方法。

儀器開機(jī)、自檢后，液晶上三位顯示“1--”，下四位顯示“8888”。穩(wěn)定3～5分鐘之后，即可校正。

校正必須按下列次序，不得跳越：

開機(jī)→校零（校鐵基）→校1#試片→校2#試片

校5#試片←校4#試片←校3#試片

校正時(shí)一定要注意液晶屏上三位所指示試片號(hào)碼。指示號(hào)與所校號(hào)碼不對(duì)號(hào)，就校錯(cuò)了，測(cè)量值就不準(zhǔn)。只有校得準(zhǔn)，才能測(cè)得準(zhǔn)，此事務(wù)必引起用戶重視。

校正后須對(duì)全部試片測(cè)量一遍，如發(fā)現(xiàn)校正錯(cuò)誤或校正后測(cè)量偏差較大，可從頭再校。

左手按下“校”鍵，半秒鐘后抬起，液晶屏上三位顯示數(shù)按下圖循環(huán)變化：

→0000→---1→---2→---3→---4→---5

“000”表示請(qǐng)你校零（鐵基），“--1”表示請(qǐng)你校1#試片，“--2”表示請(qǐng)你校2#試片，…。

下面以校零與校1為例詳述操作方法。

校零：右手持探頭放在鐵基上，輕壓扶手。左手按下“CAL”鍵。儀器發(fā)出聲、光，液晶屏下四位顯示“0000”，表示校零完畢；液晶屏上三位顯示“---1”，表示可以校1#試片了。此時(shí)左手和右手握著的探頭應(yīng)分別從“CAL”鍵和鐵基上拿開。

校1：將1#試片放在鐵基上，右手持探頭放在1#試片上，使探頭尖、試片中心、鐵基中心大體一致。輕壓扶手，待液晶屏下四位出現(xiàn)一測(cè)量數(shù)值后（校正前可能與該試片標(biāo)準(zhǔn)值相差較大），左手按下“CAL”鍵。稍后，儀器發(fā)出聲光，液晶屏下四位顯示試片1標(biāo)準(zhǔn)厚度值，表示校1完畢。同時(shí)，液晶屏上三位顯示---2，表示可以校2了，此時(shí)左手和右手握著的探頭應(yīng)分別從“CAL”鍵和鐵基上拿開。

校2、校3、校4、校5與校1方法略同。

（2）測(cè)量.存

右手持探頭放在工件上，輕輕壓緊，液晶屏下4位顯示被測(cè)涂層厚度，并發(fā)出聲光指示。若需記存數(shù)據(jù)，應(yīng)在液晶屏顯示測(cè)量值后，按一下“K”鍵方可。同時(shí)液晶屏上3位顯示記存序號(hào)。若以前未存數(shù)據(jù)，此時(shí)應(yīng)顯示001，表示數(shù)據(jù)已存入；若以前已存入X個(gè)數(shù)據(jù)，此時(shí)應(yīng)顯示X+1（例：已存入18，再存后顯19）。

（3）讀——在液晶屏上讀出已存測(cè)量數(shù)據(jù)

按下“R”鍵，液晶屏下4位將逐一顯示已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)（zui多存入800個(gè)），同時(shí)上3位顯示對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)序號(hào)。

若終止“R”，可按住“讀”鍵半秒后放開；再按“讀”鍵，又繼續(xù)“讀”下去。

（4）統(tǒng)計(jì)

按下“S”鍵將在液晶屏下4位逐一顯示以前記存數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)值-zui小值、平均值、zui大值。

（5）清零

按下“C”鍵記存的所有數(shù)據(jù)被清除（清零）。

四、其它功能

（1）斷電存儲(chǔ)：

a.斷電后儀器可長(zhǎng)期保留當(dāng)前校正參數(shù)。下次使用時(shí)，自檢完畢即可進(jìn)行測(cè)量（注：若測(cè)量工作的鋼材型號(hào)、狀態(tài)、厚度、面積與上次工件差別太大，或周圍磁場(chǎng)有較大變化，尚須重新校正）。

b.未清零前數(shù)據(jù)可長(zhǎng)期保存。下次開機(jī)即可進(jìn)行“讀”、“統(tǒng)計(jì)”等操作。亦可繼續(xù)存入測(cè)量數(shù)據(jù)。

（2）低電壓指示：當(dāng)電池電壓降至3.6V時(shí)，液晶屏左下角顯示“L”字樣，應(yīng)更換電池。

五、注意事項(xiàng)

（1）測(cè)量曲面及圓柱體，曲率半徑較小時(shí)，應(yīng)在未涂覆的工件上校準(zhǔn)，以保證測(cè)量精度。

（2）在凹面或內(nèi)壁上測(cè)量時(shí)可拆去扶手，這時(shí)宜重新校正。

（3）為保證測(cè)量精度，校正在開機(jī)10分鐘后進(jìn)行。

(4)充電：充電時(shí)充電器的燈是不亮的，充電時(shí)間為8個(gè)小時(shí)。

六、影響測(cè)量的若干因素

基體金屬磁性

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應(yīng)使用與試件金屬具有相同性質(zhì)的鐵基片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。

邊緣效應(yīng)

本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。

表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差。每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試片上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒有腐蝕性的溶液除去基體金屬覆蓋層，在校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

磁場(chǎng)

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)量厚度的工作。

附著物質(zhì)

本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。

探頭壓力

探頭置于試件上施加的壓力的大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。因此本儀器探頭用彈簧保持一個(gè)基本恒定的壓力。

探頭的放置

探頭的放置方式對(duì)測(cè)量的影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使探頭與試樣表面保持垂直。

試件的變形

探頭使軟覆蓋層試件變形。因此在這些試件上會(huì)測(cè)出不太可靠的數(shù)據(jù)。

讀數(shù)次數(shù)

通常儀器的每次讀數(shù)并不*相同。因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)，覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量。表面粗糙是更應(yīng)如此。

第三章  維護(hù)與檢修

• 儀器應(yīng)防止潮濕、過熱和接觸腐蝕性氣體和液體。
• 不可晃動(dòng)或揪扯探頭線。
• 儀器應(yīng)保持清潔。
• 儀器長(zhǎng)期不用應(yīng)取出電池。
• 測(cè)量不正常作下述處理：

• 查電壓是否正常；電池正負(fù)極是否接觸良好。
• 測(cè)量方法是否得當(dāng)。
• 重大故障送廠或廠維修部處理。
• 用戶不得隨意拆開儀器機(jī)殼。
• 裝  箱  清  單