X熒光分析儀

【資料簡介】

X熒光分析儀型號：CIT-3000SMD(A)

應(yīng)用領(lǐng)域該儀器是專門為黑色冶金、礦山樣品分析行業(yè)打造的一款針對性強(qiáng)的分析儀器，對原礦、精礦、尾礦、燒結(jié)礦、球團(tuán)礦、爐渣、生鐵、石灰石等許多樣品可進(jìn)行多元素快速檢測。 
儀器技術(shù)指標(biāo)(1)測量范圍：1-40kev； 
(2)可分析元素范圍：Na-U； 
(3)分析含量范圍：1ppm-99.99%； 
(4)分辨率：優(yōu)于127Ev； 
(5)低檢出限：Pb≤5ppm； 
(6)工作環(huán)境溫度：0-40攝氏度； 
(7)工作環(huán)境相對濕度：≤80% （不結(jié)露） 
(8)測量時(shí)間：10-2550s(時(shí)間可調(diào)） 
(9)輸入電源：AC 220V ±10%，50HZ； 
(10)額定功率：300W； 
(11)探測器類型：更的 Superfast SDD 探測器； 
(12)500萬像素的CDD頭，可有效的實(shí)現(xiàn)觀察測試區(qū)域狀況，并拍下物料照片，可作為檢測報(bào)告的組成部分； 
(13)儀器尺寸：600(W) *570(D) *570(H)mm 
(14)樣品腔尺寸：樣品腔：300*300*100 mm 
(15)重量：約100Kg