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了解二合一數(shù)字式四探針測試計的原理

時間:2017-3-2閱讀:470
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二合一數(shù)字式四探針測試計 
 產(chǎn)品說明 
SX1934D型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率,測量擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。換上特制的四探針測試夾具,還可以對金屬導體的低、中值電阻進行測量,于半導體、太陽能行業(yè)的篩選。 
產(chǎn)品特點 
   儀器由主機、測試探頭(可選配測試臺)等部分組成,測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由數(shù)控恒流源,高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成,自動轉(zhuǎn)換量程。測試探頭高分子材料和高耐磨碳化鎢探針制成,故定位準確、游移率小、壽命長。儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(自動調(diào)零)??设b別半導體PN類別。

詳細參數(shù)

 

型號

SX1934D

測量范圍

電阻率:10-2~102Ω-cm;方塊電阻:10-1~103Ω/□;電阻:10-3~9999Ω,可鑒別半導體PN類別

外形尺寸

主機 173mm(D)×80 mm(W)×30mm(H)

電源

交直流兩用(內(nèi)置鋰電池)功 耗:<1W; 電源充電器:輸入:220V±10% 50Hz; 輸出:DC5V±10%

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