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數字式四探針電阻率測試儀

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數字式四探針電阻率測試儀型號:SX1944

產品說明   
    四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。廣泛用于半導體廠家、太陽能行業(yè),還能滿足科研單位的精密研究。    
產品特點   
   四探針測試儀是根據單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M 標準設計的半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀器。    
  儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件,采用旋扭式開關控制,及各種工作狀態(tài)LED指示。應用微計算機技術,使得測量讀數更加直觀、快速。整套儀器體積小、功耗低、測量精度高、測試速度快、穩(wěn)定性好、易操作。   
 型號SX1944 
測量范圍電阻率:10-4~105Ω-cm 方塊電阻:10-3~106Ω/□ 電阻:10-4~105Ω 
可測半導體材料尺寸直徑:Φ15~100mm 
測量方位軸向、徑向均可 
數字電壓表⑴量程: 200mV 
⑵誤差:± 0.1% 讀數± 2 字 
⑶大分辨力:10μV 
顯示 : 4位半數字顯示。小數點自動顯示 

數控恒流源⑴電流輸出:直流電流 0 ~ 100mA 連續(xù)可調,由交流電源供電。 
⑵量程: 1 μ A , 10 μ A , 100μA , 1mA , 10mA , 100mA 
⑶誤差:± 0.5% 讀數± 2 字 

四探針測試探頭⑴探 針 間 距: 1mm 
⑵探針機械游移率: ± 1.0% 
⑶探 針: 碳化鎢,Φ 0.5mm 
⑷壓 力: 0 ~ 2kg 可調 , 大壓力約 2kg 

電源輸入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗: <20W 
外形尺寸主機 260mm (長)× 210 mm (寬)× 125mm (高) 
備注USB 接口,配軟件

 

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