DPLS4000 數(shù)字化正電子湮沒壽命譜儀操作界面

DPLS4000 是一款基于高速數(shù)字采集卡和快γ探測(cè)器的正電子湮沒壽命測(cè)量 一體機(jī)設(shè)備。在商業(yè)化正電子湮沒壽命譜儀中實(shí)現(xiàn)了免調(diào)試、自穩(wěn)定的功能。

通過測(cè)量正電子在材料中的湮沒壽命的長(zhǎng)短，DPLS4000 可以表征材料中的 微觀結(jié)構(gòu)缺陷。正電子進(jìn)入材料后根據(jù)所處微電子環(huán)境的不同有著不同的壽命， 材料中的缺陷孔洞越大，電子密度越小，相應(yīng)的正電子壽命也就越長(zhǎng)。

正電子湮沒壽命與材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的關(guān)系

技術(shù)指標(biāo)

1. 時(shí)間分辨率≤190ps（使用Na-22 測(cè)量正電子湮沒壽命譜）；

2. 時(shí)間分辨率≤155ps（使用 Co-60 測(cè)量符合時(shí)間譜）；

3. 具有一鍵設(shè)置功能， 自動(dòng)設(shè)置所有測(cè)量參數(shù)，用戶無(wú)需調(diào)試直接使用；

4. 具有自動(dòng)校準(zhǔn)功能，在測(cè)量過程中始終保持參數(shù)的穩(wěn)定；

5. 能量分辨率≤3.5%@1.275MeV；

6. 時(shí)間采樣率≥5G/SPS；

7. 幅度分辨率≥14 位；

8. 典型陽(yáng)極脈沖上升時(shí)間≤0.8ns；

9. 典型渡越時(shí)間分散≤0.37ns；

10. 具有示波器功能；

11. 能窗自動(dòng)識(shí)別功能；

12. 閃爍體探測(cè)器溴化鑭晶體尺寸≥Φ25mm x L15mm；

13. 探測(cè)器集成分壓電路、磁屏蔽；

14. 典型計(jì)數(shù)率 100-200cps；

15. 支持高計(jì)數(shù)率模式可達(dá) 1000cps；

16. 采用 Na-22 放射源，活度≥20µCi。

產(chǎn)品特色

l 超高分辨：精選快γ探測(cè)器、高速數(shù)字采集卡，結(jié)合信號(hào)處理算法，實(shí) 現(xiàn) Co-60 標(biāo)定時(shí)間分辨率小于 155ps ，1.275MeV 處能量分辨率小于 3.5% ， 各項(xiàng)參數(shù)均達(dá)到行業(yè)水平。

l 一機(jī)集成：DPLS4000 使用模塊化設(shè)計(jì)，將所有設(shè)備集成在機(jī)箱中，設(shè)備占 地面積小，安裝移動(dòng)快捷，可以在各種場(chǎng)景中使用。

l 一鍵測(cè)量：利用AI 算法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)設(shè)置，省去繁復(fù)的調(diào)試過程，消除使用門 檻，真正讓用戶開機(jī)即用、一鍵測(cè)量。