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西安長禾半導體技術有限公司


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HTGB功率老化壽命預測服務

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參  考  價:99
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 產品型號

    長禾CNAS

  • 品牌

    其他品牌

  • 廠商性質

    生產商

  • 所在地

    西安市

規(guī)格

1 99元 999件可售

聯(lián)系方式：白曉輝查看聯(lián)系方式

更新時間：2025-05-19 11:03:17瀏覽次數：289次

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經營模式：生產廠家

商鋪產品：20條

所在地區(qū)：陜西西安市

聯(lián)系人：白曉輝 （銷售）

產品簡介
加工定制 是    

HTGB功率老化壽命預測服務
功率器件參數驗證與二次篩選測試：保障器件性能穩(wěn)定，助力客戶優(yōu)化供應鏈質量控制。
車規(guī)級元器件檢測：針對新能源汽車領域，提供符合嚴苛車規(guī)標準的功率器件篩選與可靠性驗證，助力行業(yè)客戶突破核心技術瓶頸。
環(huán)境與老化實驗：模擬特殊環(huán)境下器件工作狀態(tài)，確保產品在復雜工況中長期可靠運行。
失效分析及可靠性評估：快速精準定位元器件失效根因，為產品改進和技術迭代提供有力支撐。

詳細介紹

HTGB功率老化壽命預測服務-第三方檢測中心

高溫反偏試驗（HTRB）  

執(zhí)行標準：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、EIAJED-4701100、AEC-Q101, 。

試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件及IGBT模塊；

試驗能力：溫度  150℃；電壓  5000V；

高溫柵偏試驗（HTGB）  

執(zhí)行標準：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、

EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、 。

試驗對象：MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件及IGBT模塊；

試驗能力：溫度  150℃；電壓  100V；

高溫高濕反偏試驗（H3TRB）

執(zhí)行標準：GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108、

EIAJ ED-4701100 、AEC-Q101、 。

試驗對象：DIODE、BJT、SCR、MOSFET、IGBT、SiC器件等分立器件及IGBT模塊；

試驗能力：溫度85℃，濕度范圍：25%~95%，電壓  4500V；

功率老煉測試      

試驗對象：IGBT、TVS、壓敏電阻VDR；

試驗能力：檢測 電壓：4500V，檢測 電流：200A

間歇壽命試驗（IOL）

執(zhí)行標準：GJB128、MIL-STD-750、 ；

試驗對象：DIODE、BJT、MOSFET、IGBT及SiC器件等分立器件；

檢測能力：ΔTj≧100℃ 電壓 60V，電流 50A。

功率循環(huán)試驗（PC）

執(zhí)行標準：GJB128、MIL-STD-750、 ；

試驗對象：IGBT模塊；

檢測能力：ΔTj=100℃，電壓 30V，電流 1800A；

熱阻測試（Riath）    

執(zhí)行標準：JESD51-1、JESD51-14、JESD24-3、JESD24-4、JESD24-6；

試驗對象：各類二極管；

試驗能力：瞬態(tài)熱阻、穩(wěn)態(tài)熱阻


HTGB功率老化壽命預測服務







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