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緣電阻測試儀 采用微處理器控制的測試儀器

時間:2016-8-26閱讀:271
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緣電阻測試儀 型號:VSN/AT-682L 貨號:ZH5329 
產(chǎn)品簡介:  
緣電阻測試儀是采用微處理器控制的測試儀器。六量程測試,使緣電阻測量范圍:10k-500GΩ(104~5x1011Ω),zui大顯示位數(shù)9999數(shù)。測試速度可達15次/秒,速測試為自動化生產(chǎn)提供了方案。高速測試且高設(shè)計。 
技術(shù)規(guī)格:
緣電阻測量范圍:10k-500GΩ(104~5x1011Ω) 
zui大讀數(shù):1999(3?) 
測試電壓:10V, 25V, 50V, 75V, 100V, 250V, 500V 七檔,電壓準確度1% 
緣電阻基本準確度: <10G: 2%,≥10G: 5% 
zui大充電電流:30mA±5mA 
六量程自動或手動測試 
測試速度:高速15次/秒,中速:7次/秒,慢速:3次/秒。 
內(nèi)建定時器,自定義充電時間,定時時間:0秒~999.9秒 
雙顯示:同時顯示漏電流、偏差(ΔABS)、相對偏差(Δ%)和分選輸出結(jié)果(GD/NG) 
性能特征:
高亮度,超清晰四色VFD顯示。 
量程開路清零功能。 
比較器(分選)功能:可對被測件進行GD/NG判斷。 
訊響:可設(shè)置訊響開關(guān)。 
訊響和顯示可調(diào):用戶可以根據(jù)自己需要設(shè)置GD/NG訊響和調(diào)節(jié)顯示亮度。 
可選RS232C接口。 
可選Handler接口。 
應(yīng)用:
電子元件、設(shè)備的緣電阻測量。 
介質(zhì)材料和電線電纜的緣電阻測量等。 
 


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