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當(dāng)前位置：深圳眾裕康科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>測(cè)試類
RC-05分辨率測(cè)試卡致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量...
AECG100脈搏血氧心電測(cè)試儀同步輸出 ECG 心電及 PPG 光學(xué)心率模擬訊號(hào)，符合國際版標(biāo)準(zhǔn) :IEC 60601-2-47, China YY0885
Hans Rudolph1130氧容器測(cè)試儀用于測(cè)試脈沖式氧氣儲(chǔ)存器系統(tǒng)。它可以與電子或氣動(dòng)服務(wù)器以及內(nèi)置在服務(wù)器設(shè)備中的便攜式集中器一起使用。該測(cè)試儀設(shè)計(jì)用于...
電極阻抗測(cè)試儀是一款簡(jiǎn)單便利的接觸阻抗測(cè)試器，符合國際標(biāo)準(zhǔn): IEC 60601-2-2。
ST5540泄漏電流測(cè)試儀支持醫(yī)療和通用電氣設(shè)備的所有標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試類型（ST5540）電氣設(shè)備（包括打算用于醫(yī)療應(yīng)用的電氣設(shè)備）通常設(shè)計(jì)為具有足夠的絕緣，以使操作員...
呼吸測(cè)試速度計(jì)專為用作呼吸流量測(cè)量系統(tǒng)中的雙向流量計(jì)。有一系列尺寸可供選擇，涵蓋嬰兒到鍛煉成年運(yùn)動(dòng)員的流量范圍。應(yīng)用范圍從肺功能測(cè)試、運(yùn)動(dòng)測(cè)試和呼吸研究。
UMS4聲場(chǎng)掃描測(cè)試系統(tǒng)是一種全自動(dòng)掃描系統(tǒng)，專門設(shè)計(jì)用于自動(dòng)執(zhí)行與聲場(chǎng)測(cè)量和繪圖相關(guān)的數(shù)據(jù)采集、顯示、存儲(chǔ)和處理等重復(fù)性任務(wù)。
105電極阻抗測(cè)試計(jì)是一款手持式電池供電設(shè)備，用于測(cè)量應(yīng)用于患者的生物電勢(shì)電極的電阻抗。
RC-04分辨率測(cè)試卡是一種用于設(shè)置和測(cè)試微焦 X 射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測(cè)試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間的分辨率，對(duì)應(yīng)于...
EN 462-5雙絲像質(zhì)測(cè)試計(jì)是一種特別有用的工具，可用于建立和監(jiān)測(cè)放射（實(shí)時(shí)）系統(tǒng)的性能。CEN 標(biāo)準(zhǔn) EN 13068 在某些情況下強(qiáng)制使用。
TL-2300剝離力測(cè)試儀采用了我們其他基于壓板的滑動(dòng)/剝離測(cè)試儀中使用的電子設(shè)備。操作員界面與 SP-2100 相同。熟悉 SP-2100 操作的技術(shù)人員將在...
SP-2100滑動(dòng)/剝離測(cè)試儀是 IMASS SP-2000 的繼任者和直接功能替代品，其已證明測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性、可靠性和可接受性。
PCD空化測(cè)式儀具有非常高聲幅，來自空化事件的聲發(fā)射可以是幾個(gè)數(shù)量級(jí)量級(jí)更小。因此需要高靈敏度傳感器來測(cè)量這些低水平的空化產(chǎn)生的信號(hào)。
KOWOVAC真空泄漏測(cè)試儀可以對(duì)儲(chǔ)罐、管道和許多其他焊接結(jié)構(gòu)中的焊縫進(jìn)行快速、安全的泄漏測(cè)試。
PT1疏水閥測(cè)試儀用于測(cè)量振動(dòng)（超聲波）和溫度，以及用于蒸汽疏水閥、閥門和軸承的基本操作判斷。
Kowotest ASTM E2737 5槽楔測(cè)試塊符合 ASTM E2737 的 標(biāo)準(zhǔn)，這些5槽楔塊易于設(shè)置和使用。符合 ASTM E2737 的通用測(cè)試楔 ...
Kowotest 39 X射線分辨率測(cè)試卡符合ASTM E 2445-05第5.1.3節(jié)的要求。隨附符合性證書。
附著力測(cè)試儀是便攜式手動(dòng)操作儀器可在任何位置使用，無需外部電源——非常適合實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)使??用，以 PSI 和 MPa 為單位輕松輕松地進(jìn)行大規(guī)模讀數(shù)。
景深測(cè)試板可把測(cè)量光學(xué)公差標(biāo)準(zhǔn)化，否則大部分情況下是靠理論計(jì)算的。我們的大量光學(xué)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)表明，通過理論計(jì)算的景深經(jīng)常導(dǎo)致令人費(fèi)解的結(jié)論。這個(gè)測(cè)試板解決了這個(gè)問題...
分辨率測(cè)試卡是一款采用半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型測(cè)試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率，確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。
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