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拉曼圖像-掃描電子顯微鏡聯(lián)用儀

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產(chǎn)品型號(hào)*/TESCAN MAIA3 GMU model 2016/WITec apyron

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更新時(shí)間：2023-06-27 17:22:48瀏覽次數(shù)：173次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

性能指標(biāo)電鏡分辨率：高真空模式：0.7nm@15kV,1.4nm@1kV,1.7nm@500V

詳細(xì)介紹

性能指標(biāo)

電鏡分辨率：

高真空模式：0.7 nm @ 15 kV, 1.4 nm @ 1 kV,1.7 nm@500 V；減速模式：1.0 nm @ 1 kV-SE,1.2 nm@200 V-SE;
景深模式：2 nm@30 kV；低真空模式：3 nm @ 30kV-SE, 2 nm @ 30 kV-BSE；
放大倍數(shù)@30 kV：4ｘ-1,000,000ｘ；加速電壓：200 V～30 kV，連續(xù)可調(diào)；束流大?。?pA～400nA。

物鏡模式（TriLensTM三物鏡系統(tǒng)）：

WITec共聚焦拉曼顯微鏡：

主要應(yīng)用

該設(shè)備集成了掃描電子顯微鏡與WITec共聚焦拉曼成像的兩個(gè)系統(tǒng)，兩者分別具有亞納米和衍射限制的200-300 nm分辨率。
可提供獨(dú)立SEM和共焦拉曼顯微鏡的所有功能和特性，并且能夠?qū)呙桦A段的樣品自動(dòng)轉(zhuǎn)移至光學(xué)顯微鏡處進(jìn)行原位表征，最終可獲取拉曼和SEM的疊加圖像。
可應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、光電、太陽能電池、光刻膠、生命科學(xué)等領(lǐng)域。

樣品要求

儀器說明

WITec共聚焦拉曼光譜顯微鏡——更高的共焦拉曼成像速度、靈敏度和分辨率；優(yōu)秀的深度分辨率適合三維圖像生成和深度分析；非破壞性成像技術(shù)：樣品無需染色固定；
肖特基場(chǎng)發(fā)射高分辨掃描電鏡——TriglavTM電子鏡筒、TriLensTM物鏡和探測(cè)系統(tǒng)，擁有的信噪比，能夠獲取各種納米材料的表面細(xì)節(jié)、出色的形貌和成分襯度；尤其是低電壓或電子減速模式下對(duì)電子束高敏感的材料或不導(dǎo)電材料的成像（低k系數(shù)介電材料、光刻膠、不導(dǎo)電材料、原始狀態(tài)的生物材料）。

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