基于 XDS NIR 技術(shù)的 XDS RCA 近紅外光譜分析儀對(duì)固體和液體化學(xué)品和藥物配方的快速無(wú)損測(cè)量提供了新一代專用近紅外分析方案。用戶可以使用 XDS RCA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗(yàn)，縮短產(chǎn)品的檢驗(yàn)檢疫放行時(shí)間。無(wú)論在實(shí)驗(yàn)室還是現(xiàn)場(chǎng)離線分析都可以對(duì)原始樣品瓶、袋子或瓶子中的樣品進(jìn)行成分或材料鑒別檢測(cè)。采用固體樣品分析模塊，得以對(duì)固態(tài)樣品的分析范圍涵蓋從精細(xì)粉末到粗顆粒、球狀顆粒和片......

詳細(xì)介紹

儀器特性及優(yōu)勢(shì)

•XDS NIR 技術(shù)確保使用簡(jiǎn)單和定標(biāo)的無(wú)縫轉(zhuǎn)移

•不到 1 分鐘即可完成固體和液體的無(wú)損分析——通過(guò)袋子、玻璃樣品瓶或燒杯等

•無(wú)需樣品制備，無(wú)需試劑，無(wú)任何廢棄物

• 面向集中數(shù)據(jù)庫(kù)管理的網(wǎng)絡(luò)分析儀

•熱插拔模塊——幾分鐘內(nèi)即可完成更換，不會(huì)影響性能

儀器簡(jiǎn)介

基于 XDS NIR 技術(shù)的 XDS RCA 近紅外光譜分析儀對(duì)固體和液體化學(xué)品和藥物配方的快速無(wú)損測(cè)量提供了新一代專用近紅外分析方案。

用戶可以使用 XDS RCA 近紅外光譜分析儀取代常規(guī)試驗(yàn)，縮短產(chǎn)品的檢驗(yàn)檢疫放行時(shí)間。無(wú)論在實(shí)驗(yàn)室還是現(xiàn)場(chǎng)離線分析都可以對(duì)原始樣品瓶、袋子或瓶子中的樣品進(jìn)行成分或材料鑒別檢測(cè)。

采用固體樣品分析模塊，得以對(duì)固態(tài)樣品的分析范圍涵蓋從精細(xì)粉末到粗顆粒、球狀顆粒和片狀顆粒藥物等幾乎所有固體。選配的光斑可調(diào)功能，可以根據(jù)樣品的物理性質(zhì)調(diào)節(jié)樣品照度。

XDS NIR 技術(shù)不僅帶來(lái)了*的分析性能，同時(shí)也加快了定標(biāo)方法的研發(fā)，縮短了實(shí)施時(shí)間，保證了定標(biāo)的無(wú)縫轉(zhuǎn)移。

使用*、界面友好、具有聯(lián)網(wǎng)能力的 Vision® 軟件可以輕松實(shí)現(xiàn)鑒定、定性和定量等方法。只需按下一個(gè)按鍵或單擊鼠標(biāo)就能完成準(zhǔn)確的分析。

關(guān)鍵詞：光譜分析儀

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