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上海華測(cè)品標(biāo)檢測(cè)技術(shù)有限公司
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更新時(shí)間：2025-06-28 08:33:09瀏覽次數(shù)：34次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線提供完整的芯片產(chǎn)品老化壽命試驗(yàn)項(xiàng)目，包含技術(shù)整合咨詢、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)規(guī)劃、硬件設(shè)計(jì)制作、可靠性試驗(yàn)、壽命預(yù)估等一站式服務(wù)，協(xié)助客戶通過(guò)JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性國(guó)際試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
半導(dǎo)體產(chǎn)品是電子產(chǎn)業(yè)的核心，而其可靠度試驗(yàn)的關(guān)鍵項(xiàng)目在針對(duì)芯片老化壽命，實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目是以JEDEC 47或MIL-STD 883為基礎(chǔ)進(jìn)行。根據(jù)JEDEC 47的建議，樣品的取得是必須三個(gè)非連續(xù)生產(chǎn)批次，以模擬生產(chǎn)的穩(wěn)定度，并可參考Family概念適度減少實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目與樣品數(shù)。
多數(shù)的老化壽命試驗(yàn)，必須透過(guò)老化板作為測(cè)試機(jī)臺(tái)與芯片的接口。老化板是整個(gè)試驗(yàn)的核心，必須確保其穩(wěn)定性，避免衍生額外問(wèn)題。
正文：我們提供的測(cè)試項(xiàng)目一共分為3小點(diǎn)
1).高/低溫壽命試驗(yàn)
芯片透過(guò)高/低溫壽命試驗(yàn)，以仿真在不同溫度下的加速老化狀態(tài)，常用的加速因子有電壓、電流、溫度與濕度等項(xiàng)目。高低溫壽命試驗(yàn)的溫度規(guī)格是參考芯片的結(jié)溫 (Tj，Junction Temperature)，高溫一般消費(fèi)型與工規(guī)產(chǎn)品使用125℃，低溫則使用50℃。壽命試驗(yàn)的測(cè)試時(shí)間以1000小時(shí)為基礎(chǔ)，實(shí)際的測(cè)試時(shí)間必須根據(jù)客戶產(chǎn)品保固期，使用壽命公式進(jìn)行推估。壽命試驗(yàn)屬于動(dòng)態(tài)試驗(yàn)，除了上述的加速因子外，通常會(huì)輸入特定的程序，在動(dòng)態(tài)的環(huán)境中確保芯片無(wú)任何的異常超標(biāo)現(xiàn)象，以更貼近客戶使用的環(huán)境。下圖為老化測(cè)試設(shè)備的架構(gòu)圖。
2).早夭失效率試驗(yàn)
早夭失效率的試驗(yàn)?zāi)康尼槍?duì)特定或特殊產(chǎn)品，例如車用產(chǎn)品，進(jìn)行一個(gè)放大量的觀察。早夭失效率試驗(yàn)的另一個(gè)重要目的在針對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行出貨后的使用壽命進(jìn)行估算，以確保產(chǎn)品穩(wěn)定度以及需要準(zhǔn)備多少的備品作為后續(xù)RMA之用。實(shí)驗(yàn)的條件與實(shí)際壽命試驗(yàn)相同，但測(cè)試時(shí)間較短，且測(cè)試后無(wú)異常之產(chǎn)品可以出貨。下圖為浴缸曲線中的早夭區(qū)，可以看出早夭的問(wèn)題來(lái)自制造與測(cè)試篩選不足而流出，是觀察生產(chǎn)良率相當(dāng)重要的一項(xiàng)測(cè)試方式，而非僅以功能測(cè)試(FT)結(jié)果為主。
3).高溫儲(chǔ)存壽命試驗(yàn)
4).非揮發(fā)性內(nèi)存壽命試驗(yàn)
5).老化板硬件設(shè)計(jì)與制作
老化板的設(shè)計(jì)制作是整個(gè)壽命試驗(yàn)的關(guān)鍵。不同的產(chǎn)品類別與應(yīng)用，衍生的頻率、傳輸速度、訊號(hào)完整度、發(fā)熱現(xiàn)象、阻抗匹配(Impedance)等，在老化板的設(shè)計(jì)、材料選擇、結(jié)構(gòu)等考慮上相對(duì)復(fù)雜。蔚思博檢測(cè)是目前可以提供老化板設(shè)計(jì)制作服務(wù)的公司，在考慮成本下，根據(jù)產(chǎn)品規(guī)格可選擇適當(dāng)之萬(wàn)用板(Universal Board)，制作小板DUT Card解決，或者根據(jù)成本考慮設(shè)計(jì)專板等。此外，華測(cè)蔚思博檢測(cè)也是一家能夠提供RF硬件設(shè)計(jì)與試驗(yàn)的第三方實(shí)驗(yàn)室。
可靠度壽命試驗(yàn)的抽樣方式采取允收水平LTPD (Lot Tolerance Percent Defective)，信心水平(Confidence Level)一般使用90%。樣品數(shù)的選擇與信心水平均影響到壽命的預(yù)估值，必須非常注意。
CTI華測(cè)檢測(cè)在芯片壽命試驗(yàn)，擁有在半導(dǎo)體制程與應(yīng)用領(lǐng)域具有多年經(jīng)驗(yàn)的專業(yè)人員，可根據(jù)客戶需求提供定制化服務(wù)。
目前已在上海張江、上海金橋、上海浦江、合肥、中國(guó)臺(tái)灣新竹設(shè)立五大半導(dǎo)體測(cè)試及分析實(shí)驗(yàn)室，實(shí)驗(yàn)室總面積1萬(wàn)多平方米，搭建了完整的檢測(cè)平臺(tái)服務(wù)，具備CNAS、ISO9001、ISO17025、ISO27001、ANSI/ESD S20.20等資質(zhì)。
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