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單點測量的非接觸式薄層電阻和圖層厚度測量設備

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更新時間：2022-05-22 09:11:42瀏覽次數(shù)：234次

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深圳市嘉士達精密儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

單點測量的非接觸式薄層電阻和圖層厚度測量設備EddyCusTFlab2020系列產(chǎn)品簡介EddyCusTFlab2020系列允許在非接觸模式下對導電薄膜進行手動單點測量和薄金屬層的層厚測量

詳細介紹

單點測量的非接觸式薄層電阻和圖層厚度測量設備 EddyCus® TF lab 2020 系列

產(chǎn)品簡介

EddyCus® TF lab 2020 系列允許在非接觸模式下對導電薄膜進行手動單點測量和薄金屬層的層厚測量。緊湊的臺式設備非常適合快速準確地測量大 200 x 200 mm²（8 x 8 英寸）的樣品。除了測量薄的導電層外，還可以分析摻雜的晶片和導電聚合物。

產(chǎn)品優(yōu)勢

非接觸式實時測量
精確測量導電薄膜
隱藏和封裝導電層的表征
測量數(shù)據(jù)保存和導出功能

設計要點

薄層電阻
金屬層的厚度測量
單點測量
質量控制，輸入和輸出控制
樣品尺寸：10 x 10 mm² 至 200 x 200 mm²（0.5 x 0.5 英寸至 8 x 8 英寸）
測量范圍：0.1 mOhm/sq 至 100 kOhm/sq

應用域

鍍膜建筑玻璃，例如 LOWE
顯示器、觸摸屏和平板顯示器
OLED和LED應用
智能玻璃
石墨烯層
光伏晶片和電池
半導體晶圓
金屬化層和晶圓金屬化
除冰和加熱應用
電池電
導電涂層紙和導電紡織品

產(chǎn)品選型

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