多功能X射線衍射儀

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更新時間：2022-04-01 11:55:06瀏覽次數(shù)：699次

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束倫（上海）技術服務有限公司

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產(chǎn)品簡介

性能指標X射線光源Cu靶

詳細介紹

性能指標

X射線光源 Cu靶，陶瓷X光管，電壓≤40kV，電流≤40mA 樣品臺樣品臺水平固定，適合測試松散固體、塊狀固體、薄膜等測角儀精度高，角度重現(xiàn)性達±0.0001o，最小步長為0.0001o，可θ，2θ單獨驅(qū)動，工作模式為θ/θ模式，步進馬達 + 光學編碼器確保測角儀快速而準確定位探測器新型Lynxeye-XE半導體探測器，具有靈敏度高，信號強高的特點

主要應用

樣品的物相分析（定性分析）晶粒尺寸測定、分析納米粒度大小及粒徑分布物相定量分析薄膜物相鑒定，薄膜高溫分析測量纖維或高分子樣品的物相、取向度等織構分析應力分析

樣品要求

粉末樣品要求：干燥、在空氣中穩(wěn)定，粒度均勻，粒徑1-50μm（大尺寸塊體需研磨后過250目篩），粉末樣品量約需1g。塊狀樣品要求：測試面清潔平整，也可是板狀、片狀，帶襯底材料的薄膜或帶基材的鍍層等原始形狀，厚度≤5mm，直徑≤2cm。特殊樣品：極少量的粉末、非晶條帶樣品等。微量粉末樣品需要顆粒均勻細小，且物質(zhì)性質(zhì)穩(wěn)定，對Si無腐蝕性。條帶需要平整光滑且不能太厚。告知測試的起始角度，2θ角掃描范圍須在5°～120°之間若樣品中含有Fe、Co、Ni等熒光物質(zhì)，請告知送樣人需盡量提供樣品中所含的元素種類易變質(zhì)樣品需提前與儀器操作人員聯(lián)系，預約測試時間劇毒樣品需特別注明請注明樣品保存條件，如常規(guī)、冷凍、干燥、冷藏、避光等。

儀器說明

D8 DaVinci型X射線粉末衍射儀樣品臺水平固定，適合測試松散固體、塊狀固體、薄膜樣品等。配置有高、低溫（-180~450度）附件、薄膜附件、PLynxeye探測器、強大的智能化多用途軟件平臺。主要應用于混合物相的定性分析；樣品的對照分析；晶體物相的定量分析；晶體材料微結構的表征（晶胞參數(shù)的精密測定，晶粒大小，微應力等）；薄膜材料的研究；掠入射小角X衍射；結晶度分析等。該儀器已對交大材料學院、化工學院、生命學院、藥學院、環(huán)境學院等各學院及多家校外企事業(yè)單位提供了測試服務。該儀器在材料的物相分析上為校內(nèi)外客戶提供了很好的服務并取得了豐碩的成果。每年發(fā)表包括該儀器為表征手段的文章百余篇。

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