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涂層測厚儀探頭

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更新時(shí)間:2022-08-22 15:17:32瀏覽次數(shù):136次

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F1探頭是磁性法測量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍,也是TT260的標(biāo)配探頭。

F1探頭是磁性法測量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍,也是TT260的標(biāo)配探頭。

涂層測厚儀F1探頭

涂層測厚儀F1探頭

  • 工作原理:磁感應(yīng) | 分辨力:0.1um
  • 測量范圍:0-1250um
  • 示值誤差:
    1. 一點(diǎn)校準(zhǔn):±[3%H+1]um
    2. 兩點(diǎn)校準(zhǔn):±[(1~3)%H+1]um
  • 測量條件:
    1. 最小曲率半徑:凸1.5mm
    2. 基體最小面積的直徑:Ф7mm
    3. 最小臨界厚度:0.5mm
  • 探頭尺寸:Ф12X47mm

N1探頭是渦流法測量的通用標(biāo)準(zhǔn)探頭,測量范圍0-1250um,基本覆蓋大部分涂層厚度范圍,也是TT260的標(biāo)配探頭。

涂層測厚儀N1探頭

涂層測厚儀N1探頭

  • 工作原理:電渦流 | 分辨力:0.1um
  • 測量范圍:0-1250 | 銅上鍍鉻0-40um
  • 示值誤差:
    1. 一點(diǎn)校準(zhǔn):±[3%H+1]um
    2. 兩點(diǎn)校準(zhǔn):±[(1~3)%H+1]um
  • 測量條件:
    1. 最小曲率半徑:凸3mm
    2. 基體最小面積的直徑:Ф5mm
    3. 最小臨界厚度:0.3mm
  • 探頭尺寸:Ф15X73mm

TT260選配F400探頭,主要用于較薄厚度的涂層測量,可獲得更精確的測量結(jié)果和更高的重復(fù)性,另外在管材基體直徑較小或者被測區(qū)域接觸面積較小時(shí),F(xiàn)400探頭也是的選擇。

涂層測厚儀F400探頭

涂層測厚儀F400探頭

  • 工作原理:磁感應(yīng) | 分辨力:0.1um
  • 測量范圍:0-400um
  • 示值誤差:
    1. 一點(diǎn)校準(zhǔn):±[3%H+1]um
    2. 兩點(diǎn)校準(zhǔn):±[(1~3)%H+0.7]um
  • 測量條件:
    1. 最小曲率半徑:凸1mm
    2. 基體最小面積的直徑:Ф3mm
    3. 最小臨界厚度:0.2mm
  • 探頭尺寸:Ф12X55mm

TT260選配F10探頭,測量范圍由標(biāo)配的0-1250um擴(kuò)展至0-10000um,主要用于大厚度的涂層測量。選配F10探頭還應(yīng)增配2000um、4000um、8000um的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片,用于校準(zhǔn)儀器。

涂層測厚儀F10探頭

涂層測厚儀F10探頭

  • 工作原理:磁感應(yīng) | 分辨力:10um
  • 測量范圍:0-10000um
  • 示值誤差:
    1. 一點(diǎn)校準(zhǔn):±[3%H+10]um
    2. 兩點(diǎn)校準(zhǔn):±[(1~3)%H+10]um
  • 測量條件:
    1. 最小曲率半徑:凸10mm
    2. 基體最小面積的直徑:Ф40mm
    3. 最小臨界厚度:2mm
  • 探頭尺寸:Ф27X47mm

TT260選配CN02探頭,主要用于測量線路板上的銅箔厚度,檢測范圍在10-200um之間。

涂層測厚儀CN02探頭

涂層測厚儀CN02探頭

  • 工作原理:電渦流 | 分辨力:1um
  • 測量范圍:10-200um
  • 示值誤差:
    1. 一點(diǎn)校準(zhǔn):±[3%H+1]um
    2. 兩點(diǎn)校準(zhǔn):—
  • 測量條件:
    1. 最小曲率半徑:平直
    2. 基體最小面積的直徑:Ф7mm
    3. 最小臨界厚度:無限制
  • 探頭尺寸:Ф16X67mm

TT260選配F1/90探頭,主要用于管材內(nèi)壁的涂層厚度測量。它細(xì)長的身形可以輕松的深入其它探頭無法到達(dá)的細(xì)管中。夾層和細(xì)縫中的涂層厚度測量也是它的拿手好戲。

涂層測厚儀F1|90探頭

涂層測厚儀F1|90探頭

  • 工作原理:磁感應(yīng) | 分辨力:0.1um
  • 測量范圍:0-1250um
  • 示值誤差:
    1. 一點(diǎn)校準(zhǔn):±[3%H+1]um
    2. 兩點(diǎn)校準(zhǔn):±[(1~3)%H+1]um
  • 測量條件:
    1. 最小曲率半徑:平直
    2. 基體最小面積的直徑:Ф7mm
    3. 最小臨界厚度:0.5mm
  • 探頭尺寸:Ф7.5X11X200mm

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