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深圳市天瑞儀器有限公司
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X熒光鍍層測厚儀特點與應(yīng)用

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　　X熒光鍍層測厚儀性能特點
 
　　1、滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求。
 
　　2、φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求。
 
　　3、高精度移動平臺可定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm。
 
　　4、采用高度定位激光，可自動定位測試高度。
 
　　5、定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊。
 
　　6、鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點。
 
　　7、高分辨率探頭使分析結(jié)果更加準(zhǔn)確。
 
　　8、良好的射線屏蔽作用。
 
　　9、測試口高度敏感性傳感器保護。
 
　　X熒光鍍層測厚儀主要應(yīng)用于以下領(lǐng)域：
 
　　電鍍與金屬加工：用于測量金屬基材表面金、鎳、銅等鍍層厚度，確保防腐蝕性和外觀質(zhì)量，廣泛應(yīng)用于汽車、航空航天等領(lǐng)域。 ‌
 
　　半導(dǎo)體與電子制造：檢測電路板、LED、半導(dǎo)體等電子元件的金屬鍍層厚度，保障產(chǎn)品一致性和可靠性。 ‌
 
　　珠寶與首飾加工：測量金、銀等貴金屬鍍層厚度，輔助工藝優(yōu)化和質(zhì)量控制。 ‌
 
　　工業(yè)檢測與質(zhì)量控制：適用于五金電鍍、衛(wèi)浴潔具等工業(yè)產(chǎn)品的鍍層厚度檢測，符合ISO 3497等國際標(biāo)準(zhǔn)。 ‌

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