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金屬鍍層X熒光測厚儀(X-Ray)適用于測定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括:金(Au),銀(Ag),錫(Sn),銅(Cu),鎳(Ni),鉻(Cr)等金屬元素厚度。本測量方法可同時(shí)測量三層覆蓋層體系,或同時(shí)測量三層組分的厚度和成分。天瑞儀器thick600金屬鍍層分析儀是一款性價(jià)比的產(chǎn)品,得到了廣泛應(yīng)用和認(rèn)可。
金屬鍍層X熒光測厚儀工作原理:X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射,這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量(若密度已知,則為覆蓋層線性厚度)和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知,同時(shí)又給出實(shí)際的密度,則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。
金屬鍍層X熒光測厚儀(即鍍層膜厚儀)主要應(yīng)用于以下領(lǐng)域:
電鍍行業(yè):用于測量金屬基材表面金、鎳、銅等鍍層厚度,確保電鍍件具備防腐蝕和裝飾性能。 ?
電子通訊領(lǐng)域:檢測PCB(印刷電路板)及芯片鍍層厚度,保障電子部件的電氣性能和可靠性。 ?
航空航天:對(duì)關(guān)鍵部件的鍍層進(jìn)行高精度測量,符合航空航天領(lǐng)域?qū)Π踩珮?biāo)準(zhǔn)的高要求。 ?
珠寶首飾:采用無損檢測技術(shù)測量貴金屬(如金、銀)鍍層厚度及成分,確保飾品質(zhì)量。 ?
工業(yè)制造:應(yīng)用于五金電鍍、汽車配件等領(lǐng)域的鍍層質(zhì)量控制,優(yōu)化工藝流程并減少材料浪費(fèi)。 ?
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