今天讓我們來了解一下耐電弧試驗儀的實驗范圍及本身的優(yōu)勢有哪些吧
耐電弧試驗儀試驗方法能夠提供同類絕緣材料當其被暴露于高電壓小電流電弧放電時，它們之間耐受發(fā)生在緊靠表面損壞情況的初步差異。
電弧放電引起局部熱的和化學的分解與腐蝕并終在絕緣材料上形成導電通道。試驗條件的嚴酷程度是逐漸增加的：開始幾個階段，小電流電弧放電反復中斷而到了后來幾個階段，電弧電流逐級增大
由于本試驗方法操作方便和試驗所需要的時間短，因此，它適用于材料初步篩選、檢查材料組分變化的影響和質量控制檢驗過去使用本試驗方法的經驗表明，熱固性材料試驗結果的再現(xiàn)性是可以接受的。
而對熱塑性材料，一些實驗室報告表明，其試驗結果出現(xiàn)不能接受的大的偏差，這就導致本推薦方法不能應用于熱塑性材料的試驗。
材料的相對耐電弧等級可能與那些由潮濕耐漏電起痕試驗(例如012,IEC60587及IEC61302)獲得的等級不同，也與材料在實際使用中的工作狀況不同，因為在這些場合中，材料承受電弧放電的強度、重復頻率以及時間等的差別很大。
常見的耐電弧測試儀存在的優(yōu)勢
1、 TVS瞬間抑制防護技術：
耐電弧試驗儀采用的光耦隔離方式，同時配置TVS瞬間抑制防護技術，對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)，將起到對控制系統(tǒng)的優(yōu)良防護。
2、多級循環(huán)采集技術：
測自主開發(fā)的多級循環(huán)電壓采集方式，大大提高目前電弧試驗普遍采用手動及干擾狀態(tài)下電壓及電流采集方式。
3、低通濾波監(jiān)測技術:
材料耐電弧試驗在10-40mA電流下進行，強大的電磁干擾不僅影響試驗精度，同時也造成通訊中斷等一系列問題。為更好解決這一難題，華測將低通濾波技術在電弧試驗儀器運用。
4、桌面型的外形體積
設備無需按照傳統(tǒng)機型外部需要一臺電腦，HCDH-4體積更小，操作更人性化，電容性屏幕隨意操作，同時可以對數(shù)據(jù)進行保存分析，測試結果一目了然
