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訪問次數(shù)：236更新時間：2020-06-11 13:57:47
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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品介紹
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。
MIK-2000H型手持式超聲波流量計具有體積小、質(zhì)量輕的特點，是真正意義上的便攜式超聲波流量計，該款產(chǎn)品具有數(shù)據(jù)自動存儲、測量精度高、全中文顯示、操作靈活等特點。產(chǎn)品一經(jīng)推出即得到廣大客戶的青睞，目前已遠銷日本、韓國、歐美及中東地區(qū)，受到客戶的*。廣泛應(yīng)用于環(huán)保、石油化工、冶金、造紙、食品、制藥等行業(yè)。
1、非接觸式測量方式、體積小、重量輕、攜帶方便
2、傳感器安裝簡便，適用于測量各種大小管道導(dǎo)聲介質(zhì)
3、測量過程中不需要破壞管道，不需停產(chǎn)
4、內(nèi)置可充電電池，可連續(xù)工作12小時以上
5、結(jié)構(gòu)緊湊、堅固，的壓鑄鋁主機
6、自動記憶前64天，前64月，前5年的累積流量
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8、我們提供配套的軟件
為了解決眾多廠商在電池內(nèi)阻測試中遇到的難題，艾德克斯推出了IT5100系列電池測試儀。IT5100系列為用戶提供在線和離線兩種內(nèi)阻測試儀。其中在線內(nèi)阻測試儀通過對電池內(nèi)阻的在線測量和分析，可以快速而準確的得到各個單體電池內(nèi)阻在使用或充電過程中的動態(tài)變化，從而判斷電池是否失效。一般在線內(nèi)阻測試儀配合電池包充放電循環(huán)壽命測試較多，可反映出整個壽命周期中，電池包內(nèi)部單體電芯內(nèi)阻所呈現(xiàn)的動態(tài)變化。IT5102在線內(nèi)阻測試儀可同時監(jiān)控16個單體電芯內(nèi)阻變化，并且支持多17臺主從并聯(lián)，將單體電芯測量數(shù)量擴展到272個，電壓電阻測量分辨率可達0.1mV、0.1mΩ。
MIK-1158-J壁掛式超聲波流量計是一款應(yīng)用廣泛，通用經(jīng)濟的超聲波流量計。超低故障率與維護成本，成為流量計中的。
MIK-1158-J具有超大規(guī)模集成電路設(shè)計。硬件數(shù)目少，低電壓工作，多脈沖發(fā)射，低功耗，高可靠性，抗干擾，適用性好。優(yōu)化的智能信號自適應(yīng)處理，用戶無需任何電路調(diào)整，就像使用萬用表一樣方便簡單。
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