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seishin粉體、微顆粒壓縮試驗(yàn)裝置顯微硬度計MHT-1介紹
顯微硬度計MHT-1是一種自動壓縮測試裝置，通過改變測量臺來針對50至400μm的細(xì)小顆粒。該裝置通過測量用壓頭施加載荷壓碎顆粒時的峰值載荷和粒徑來計算壓碎強(qiáng)度。從壓縮到失效的過程用圖像數(shù)據(jù)和載荷-位移曲線記錄。通過從測量結(jié)果中選擇任意顆粒，您可以通過載荷位移曲線和連續(xù)圖像來檢查斷裂過程。
利用我們的技術(shù)，我們對每個顆粒進(jìn)行分散和采樣。 測量時，只需加載樣品，壓縮測試和清潔就會自動重復(fù)。
使用圖像分析，重疊的顆粒和聚集體被排除在測量之外，并且通過自動識別每個顆粒是單個顆粒來執(zhí)行壓縮測試。
| 規(guī)格清單 | MHT-1 | MHT-1W（高分辨率） |
|---|---|---|
| 測量方法 | 恒負(fù)載法 | |
| 測量項(xiàng)目 | 高度粒徑、峰值載荷、位移、壓碎強(qiáng)度、斷裂強(qiáng)度、變形強(qiáng)度 | |
| 目標(biāo)粒徑 | 50 至 400μm （手動測量為 1mm） * 需要更換載物臺 | 40～120μm |
| 下降速度 | 1.0~10μm/秒選擇 | 0.01~10μm/秒選擇 |
| 測量的顆粒數(shù) | 每個樣品最多可容納 500 粒 | |
| 稱重傳感器 試驗(yàn)力 | 1N（最小顯示0.01mN） 5N、10N、20N也可更改 （可選） | 1N（最小顯示0.01mN） 5N可改 （可選） |
| 相機(jī) | CMOS USB 攝像頭從 “480 x 270”130,000 像素、“640 x 360”230,000 像素、“960 x 540”520,000 像素和 “1920 x 1080”2,070,000 像素中選擇。 | |
| 機(jī)身尺寸 | W450×D460×H400 mm *包括突出部分 | |
| 體重 | 約25公斤 | 約26公斤 |
| 公用事業(yè) | AV100V 50/60Hz 2A | |
| 其他的 | 壓頭：直徑0.45mm直頭（表面處理） LED燈、防塵罩、校準(zhǔn)砝碼 | |
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