使用熒光 X 射線分析儀進(jìn)行在線膜厚分析的實(shí)例
采用 Hours Tech 無損分析技術(shù)的在線膜厚分析儀
我們想介紹一款利用我們的無損分析技術(shù)的在線膜厚分析儀。
【特征】
● 可在線分析膜厚
● 電源僅AC100V，節(jié)電裝置
● 可自由定制以滿足您的需求
● 配備SDD檢測(cè)器，無需液氮或冷卻水 [應(yīng)用實(shí)例]
● 高性能成膜的在線膜厚分析
● 金屬箔的在線分析
● 溶液/液體等的在線分析。
測(cè)量沉積膜的厚度是表面處理功能材料開發(fā)和質(zhì)量控制的重要評(píng)估技術(shù)。
熒光X射線分析儀“OURSTEX100FA"可以改裝為在線使用，以便將測(cè)量頭連接到薄膜沉積設(shè)備上。
該測(cè)量頭內(nèi)的探測(cè)器和X射線管用水冷卻以散熱。
設(shè)備安裝
輸出顯示示例
設(shè)備規(guī)格（標(biāo)準(zhǔn)）
| 測(cè)量目標(biāo) | 電影 |
| 電源 | 交流100V~240V |
| 安裝環(huán)境溫度 | 5~27℃ |
| 設(shè)備冷卻 | 水冷*1 |
| X射線額定輸出 | 40(kV)-1.0(mA)，最大40(W) |
| 測(cè)量頭尺寸 | 266(寬)×136(深)×160(高)mm *2 |
