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反射箔的發(fā)射率測量技術(shù)介紹

時間:2023/12/16閱讀:775
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反射箔的發(fā)射率測量技術(shù)介紹

測量低發(fā)射率箔片總近法向發(fā)射率的程序,使最終用戶能夠使用積分球裝置或全半球近法向反射計對發(fā)射率低于0.1的不確定度低于0.03的反射箔片進行發(fā)射率測量。

本良好實踐指南的目的是為最終用戶提供以下建議和程序:使用商用TIR100-2發(fā)射儀或與傅立葉變換光譜儀相關(guān)的紅外積分球,對不確定度低于0.03的反射箔(發(fā)射率<0.1)進行總近法向發(fā)射率測量,-測定反射率低于0.05的反射箔(發(fā)射率<0.1)的半球總發(fā)射率。在歐盟,最終用戶主要用于測量反射箔發(fā)射率的設(shè)備是與FTIR光譜儀和INGLAS公司的反射計TIR100-2相關(guān)的積分球。在EMIRIM項目中對這兩種測量技術(shù)進行了詳細的研究,并對它們在測定低發(fā)射率反射片總半球發(fā)射率方面的性能進行了量化。

積分球的一般原理

樣品近法向光譜發(fā)射率的測量:測量原理見Erreur!入射輻射束(光譜調(diào)制)由FTIR光譜儀產(chǎn)生。積分球用于收集樣品表面反射的輻射,無論反射的擴散是否有規(guī)律。入射光束相對于樣本表面的法線略微傾斜,

因此反射的鏡面分量總是由積分球收集。由于樣品反射的輻射在積分球上的多次反射,積分球方法原則上對樣品上反射的角度分布不敏感,并且檢測器測量的信號與樣品的反射率成比例。

必須使用在接近正常光譜反射下校準的樣品對系統(tǒng)進行校準;

image.png

校準標準

對于低發(fā)射率箔片的發(fā)射率測量,建議使用鏡面低發(fā)射率標準(鏡子)。標準的校準應(yīng)可追溯到SI(國際單位制),標準的總近法向發(fā)射率的擴展不確定度應(yīng)約為0.02(k=2)。

測試的樣品

如果測試的反射箔是透明的或有孔(例如水蒸氣滲透性),則在測量過程中,應(yīng)放置一個高發(fā)射率不透明表面,使其與箔的背面接觸。這種配置更好地代表了在隔熱系統(tǒng)中使用大多數(shù)反射箔的實際配置,

通常在箔后面有高發(fā)射率材料。

帶“單光束替代誤差"校正的測量序列的描述

對于積分球,當高反射校準參考樣品被另一個樣品代替時,由積分球壁組成的空腔、開口和從球體內(nèi)部可見的樣品表面的平均反射率發(fā)生變化。因此,對積分球系統(tǒng)的輻射測量靈敏度進行了修正。

輻射測量靈敏度的這種修改通常是重要的,必須考慮到這一點才能無誤地計算樣品的光譜反射率。靈敏度隨樣品反射率(發(fā)射率)變化產(chǎn)生的誤差稱為“單光束樣品吸收誤差"[1]或“單光束替代誤差[2]。圖2顯示了反射率測量的不同配置,并對“單光束替代誤差"進行了系統(tǒng)校正。

TIR100-2型是一種緊湊型手持分析儀器,采用的是一種無損技術(shù),測量每秒內(nèi)的熱發(fā)射率。

測量一個錫箔

國際公路貨運公司是在德國制造的。

TIR100-2型的特點

  • 數(shù)秒鐘內(nèi)完成的測量

  • 通過易于使用的觸摸屏操作和結(jié)果

  • 高測量精度和重復性

  • 測量樣品保持在常溫下

  • 可在現(xiàn)場或?qū)嶒炇沂褂玫谋銛y式裝置


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