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分析塑料中鎘的形狀和厚度校正方法
在分析塑料中的鎘 (Cd) 時,由于 Cd (Cd-Ka: 23.2 keV) 的熒光 X 射線能量很高,因此產(chǎn)生的熒光 X 射線的強度會因樣品的厚度和形狀而異。(如果樣品基體是氯乙烯等,飽和厚度約為5mm。)由于樣品厚度和形狀引起的Cd強度變化直接反映為分析誤差。然而,在實際測量現(xiàn)場很難統(tǒng)一分析樣品的厚度和形狀。因此,我們能夠通過使用樣品產(chǎn)生的散射輻射的校正方法來校正形狀和厚度。
設(shè)備:OURSTEX150RoHS
探測器:硅漂移探測器(SDD)
管電壓/電流:48kV-AUTO
測量時間:100秒
使用 250ppm 氯乙烯片材標準樣品(厚度 2mm)。將此表的兩到三張重疊并分析,并進行比較有無校正。
結(jié)果如表1所示。校準曲線是用一張紙創(chuàng)建的。
如果不進行校正,定量誤差會隨著張數(shù)的增加而反映出來,但結(jié)果表明,通過校正可以減小樣品厚度的影響。
在測量導線涂層時,樣品的曲面形狀和內(nèi)腔的影響會導致 Cd 的量化誤差。
概括
采用散射輻射校正方法,對各種樣品形狀和厚度的樣品都取得了良好的效果。
能量色散X射線熒光光譜儀“OURSTEX160RoHS”
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