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分析塑料中鎘的形狀和厚度校正方法

時(shí)間:2022/9/19閱讀:977
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分析塑料中鎘的形狀和厚度校正方法

在分析塑料中的鎘 (Cd) 時(shí),由于 Cd (Cd-Ka: 23.2 keV) 的熒光 X 射線能量很高,因此產(chǎn)生的熒光 X 射線的強(qiáng)度會(huì)因樣品的厚度和形狀而異。(如果樣品基體是氯乙烯等,飽和厚度約為5mm。)由于樣品厚度和形狀引起的Cd強(qiáng)度變化直接反映為分析誤差。然而,在實(shí)際測量現(xiàn)場很難統(tǒng)一分析樣品的厚度和形狀。因此,我們能夠通過使用樣品產(chǎn)生的散射輻射的校正方法來校正形狀和厚度。

測量條件

設(shè)備:OURSTEX150RoHS

探測器:硅漂移探測器(SDD)

管電壓/電流:48kV-AUTO

測量時(shí)間:100秒

測量結(jié)果

樣品厚度

使用 250ppm 氯乙烯片材標(biāo)準(zhǔn)樣品(厚度 2mm)。將此表的兩到三張重疊并分析,并進(jìn)行比較有無校正。
結(jié)果如表1所示。校準(zhǔn)曲線是用一張紙創(chuàng)建的。

如果不進(jìn)行校正,定量誤差會(huì)隨著張數(shù)的增加而反映出來,但結(jié)果表明,通過校正可以減小樣品厚度的影響。

樣品形狀

在測量導(dǎo)線涂層時(shí),樣品的曲面形狀和內(nèi)腔的影響會(huì)導(dǎo)致 Cd 的量化誤差。

2顯示了導(dǎo)線涂層(圖 1)和 ICP 之間的相關(guān)性。

概括

采用散射輻射校正方法,對各種樣品形狀和厚度的樣品都取得了良好的效果。

推薦設(shè)備

能量色散X射線熒光光譜儀“OURSTEX160RoHS” 

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