絕緣電阻測(cè)試儀適用于測(cè)量各種絕緣材料的電阻值和變壓器、電機(jī)、電纜和電氣設(shè)備的絕緣電阻，確保這些設(shè)備、電器和線路在正常情況下工作，避免觸電、人員傷亡和設(shè)備損害。

絕緣電阻測(cè)試儀常見問題如下：

1、測(cè)量容性負(fù)載電阻時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀的輸出短路電流與實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)有什么關(guān)系，為什么？

絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流的大小可以反映兆歐表內(nèi)部高壓源內(nèi)阻的大小。

許多絕緣測(cè)試針對(duì)電容負(fù)載，例如更長(zhǎng)的電纜、具有更多繞組的電機(jī)和變壓器。因此，當(dāng)被測(cè)目標(biāo)有電容時(shí)，在測(cè)試過程開始時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀中的高壓源必須通過其內(nèi)阻給電容器充電，并逐漸將電壓充電到電容器的附加高壓輸出端。絕緣電阻測(cè)試儀。. 如果被測(cè)目標(biāo)的電容值較大，或者高壓源的內(nèi)阻較大，充電過程會(huì)較長(zhǎng)。

其長(zhǎng)度可由R Inner 與C Load 的乘積（單位：秒）確定，即T=R Inner*C Load。

因此，在測(cè)試時(shí)，需要將這樣的容性負(fù)載充電到測(cè)試電壓，充電速度DV/Dt等于充電電流I與負(fù)載電容C的比值。即DV/Dt=我知道了。

因此，內(nèi)阻越小，充電電流越大，測(cè)試結(jié)果越快穩(wěn)定。

2、外觀“G"面的作用是什么？在高壓高阻測(cè)試環(huán)境下，為什么要外接“G"端？

表面的“G"端為屏蔽端子。屏蔽端子的作用是消除測(cè)試環(huán)境中的濕度和污垢對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。外部“G"端將被測(cè)產(chǎn)品的漏電流旁路，使漏電流不通過外部測(cè)試電路，消除了漏電流帶來(lái)的誤差。G端子用于測(cè)試高電阻。

一般來(lái)說(shuō)，G端可以考慮10G以上。但是，這個(gè)阻力范圍是不確定的。在清潔干燥且被測(cè)物體積較小的情況下，G端不測(cè)500G即可穩(wěn)定。在潮濕和骯臟的環(huán)境中，較低的電阻值也需要G端。具體來(lái)說(shuō)，如果在測(cè)量更高的電阻時(shí)發(fā)現(xiàn)結(jié)果難以穩(wěn)定，可以考慮使用 G 端子。還要注意屏蔽端子G不接屏蔽層，而是接L和E之間的絕緣體或多股線，不接其他被測(cè)線。

3、為什么測(cè)量絕緣時(shí)不僅要測(cè)量純電阻值，還要測(cè)量吸收比和極化指數(shù)。重點(diǎn)是什么？

PI為極化指數(shù)，是指絕緣測(cè)試時(shí)10分鐘絕緣電阻與1分鐘絕緣電阻的比較；

DAR為介電吸收比，是指絕緣測(cè)試時(shí)1分鐘的絕緣電阻與15s的絕緣電阻的比較；

在絕緣測(cè)試中，某一時(shí)刻的絕緣電阻值并不能反映測(cè)試樣品的絕緣功能。這是由于以下兩個(gè)原因。一方面，相同功能的絕緣材料體積大時(shí)絕緣電阻小。, 體積小時(shí)出現(xiàn)絕緣電阻。另一方面，絕緣材料在施加高電壓后具有電荷的吸收比過程和極化過程。因此，電力系統(tǒng)在主變壓器、電纜、電機(jī)等諸多場(chǎng)合的絕緣試驗(yàn)中，需要測(cè)量吸收比——R60s和R15s的比值，極化指數(shù)——R10min和R1min的比值，并使用這個(gè)數(shù)據(jù)判斷絕緣好壞。

4、為什么電子絕緣電阻測(cè)試儀在多節(jié)電池供電時(shí)能產(chǎn)生更高的直流高壓？這是基于直流轉(zhuǎn)換的原理。通過升壓電路處理將較低的電源電壓升高到較高的輸出直流電壓。產(chǎn)生的高壓較高，但輸出功率?。芰康?，電流?。?。

注意：即使功率很小，也不建議親手觸摸測(cè)試探頭，還是會(huì)有刺痛感。

華天電力專業(yè)生產(chǎn)絕緣電阻測(cè)試儀（又稱數(shù)字絕緣電阻表），從事電測(cè)行業(yè)多年，旗下產(chǎn)品品質(zhì)，歡迎廣大客戶前來(lái)選購(gòu)。