應(yīng)力篩選復(fù)合試驗(yàn)箱對不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境，縮短測試時(shí)間，降低測試費(fèi)用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控......

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詳情介紹：

應(yīng)力篩選復(fù)合試驗(yàn)箱對不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測試環(huán)境，縮短測試時(shí)間，降低測試費(fèi)用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。

應(yīng)力篩選復(fù)合試驗(yàn)箱規(guī)格：測試方法：應(yīng)力篩選標(biāo)準(zhǔn)//三箱法標(biāo)準(zhǔn)//兩箱法標(biāo)準(zhǔn)

? 型號(hào)		SER-A	SER-B	SER-C	SER-D	SER-G
內(nèi)部尺寸 (W x D x H cm)		40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60	80×70×60
外部尺寸 (W x D x H cm)		140×165×180	150×190×185	160×190×185	170×240×195	180×260×200
結(jié)構(gòu)		三箱式（預(yù)冷箱）（預(yù)熱箱）（測試箱）
預(yù)熱溫度范圍		+60～+220℃（約50min）
預(yù)冷溫度范圍		+20℃～-75℃（約70min）
溫度恢復(fù)時(shí)間		小于15分鐘
溫度均勻度		≤2℃
溫度波動(dòng)度		≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示
溫度偏差		±2℃
應(yīng)力篩選溫度范圍		-40℃～+125℃/-55℃～+125℃
應(yīng)力篩選溫度速率		等均溫5℃～40℃/min（在樣品上測量）
（三想法）（兩箱法）	高溫暴露	+60～+150℃
	低溫暴露	-40℃～0℃/ -55℃～0℃/ -65℃～0℃
	控制器	中文彩色觸摸屏+ PLC控制器（控制軟件自行開發(fā)）
	控制方式	靠積分飽和PID，模糊算法平衡式調(diào)溫P.I.D + P.W.M + S.S.R
冷卻方式		水冷（水溫7℃～28℃，水壓0.1～0.3Mpa），以便確保降溫性能
電源電壓		AC380V 50Hz三相四線+接地線