X射線 是一種波長(zhǎng)極短，能量很大的電磁波，X射線的波長(zhǎng)比可見(jiàn)光的波長(zhǎng)更短，它的光子能量比可見(jiàn)光的光子能量大幾萬(wàn)至幾十萬(wàn)倍 。X射線由德國(guó)物理學(xué)家W.K.倫琴于1895年發(fā)現(xiàn)，故又稱倫琴射線。
x射線具有很高的穿透性，能透過(guò)許多對(duì)可見(jiàn)光不透明的物質(zhì)，如墨紙、木料等。這種肉眼看不見(jiàn)的射線可以使很多固體材料發(fā)生可見(jiàn)的熒光，使照相底片感光以及空氣電離等效應(yīng)。X射線初用于醫(yī)學(xué)成像診斷和 X射線結(jié)晶學(xué)。X射線也是游離輻射等這一類對(duì)人體有危害的射線。
X射線檢測(cè)作為無(wú)損檢測(cè)五大常規(guī)之一的射線檢測(cè)技術(shù)是當(dāng)下工業(yè)應(yīng)用廣泛的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，根據(jù)被檢工件的成分、密度、厚度的不同，與對(duì)射線不同吸收度或者散射度的特性，從而得到被檢工件的質(zhì)量、尺寸、特性的判斷。
X射線檢測(cè)作為五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法之一的射線檢測(cè)（Radiology），在工業(yè)上有著非常廣泛的應(yīng)用。
上述這個(gè)公式就是射線檢測(cè)基本原理的關(guān)系式。ΔI/I稱為物體對(duì)比度，(I是射線強(qiáng)度，ΔI是射線強(qiáng)度增量，μ是物質(zhì)線衰減系數(shù)，μ’是缺陷線衰減系數(shù)，ΔT是射線照射方向上的厚度差，n是散射比)從它我們可以得知，只要缺陷在透射方向上具有一定的尺寸、其衰減系數(shù)與物體的線衰減系數(shù)具有一定差別，并且散射比控制在一定范圍，就能夠獲得由于缺陷存在而產(chǎn)生的對(duì)比度差異，從而發(fā)現(xiàn)缺陷。
X射線無(wú)損探傷
x射線的特性
X射線是一種波長(zhǎng)很短的電磁波，是一種光子，波長(zhǎng)為0.001~100nm
x射線有下列特點(diǎn)：
①穿透性 x射線能穿透一般可見(jiàn)光所不能透過(guò)的物質(zhì)。其穿透能力的強(qiáng)弱，與x射線的波長(zhǎng)以及被穿透物質(zhì)的密度和厚度有關(guān)。x射線波長(zhǎng)愈短，穿透力就愈大;密度愈低，厚度愈薄，則x射線愈易穿透。在實(shí)際工作中，通過(guò)球管的電壓伏值(kV)的大小來(lái)確定x射線的穿透性(即x射線的質(zhì))，而以單位時(shí)間內(nèi)通過(guò)x射線的電流 (mA)與時(shí)間的乘積代表x射線的量。
②電離作用 x射線或其它射線(例如γ射線)通過(guò)物質(zhì)被吸收時(shí)，可使組成物質(zhì)的分子分解成為正負(fù)離子，稱為電離作用，離子的多少和物質(zhì)吸收的X射線量成正比。通過(guò)空氣或其它物質(zhì)產(chǎn)生電離作用，利用儀表測(cè)量電離的程度就可以計(jì)算x射線的量。檢測(cè)設(shè)備正是由此來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)零件探傷檢測(cè)的。X射線還有其他作用，如感光、熒光作用等。
02
影像形成原理
X線影像形成的基本原理，是由于X線的特性和零件的致密度與厚度之差異所致。
03
射線檢測(cè)技術(shù)分類
目前，射線檢測(cè)技術(shù)大致可以分為：射線照相檢測(cè)技術(shù)、射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù)、射線層析檢測(cè)技術(shù)以及其他。
04
射線檢測(cè)的檢測(cè)方式：固定式與移動(dòng)式
05
射線檢測(cè)技術(shù)優(yōu)缺點(diǎn)
1.射線檢測(cè)技術(shù)優(yōu)點(diǎn)
①被測(cè)結(jié)果可以直觀顯示：探測(cè)器將檢測(cè)信號(hào)傳輸至電腦顯示屏實(shí)時(shí)顯示檢測(cè)結(jié)果；
②測(cè)量結(jié)果可以長(zhǎng)期保存：檢測(cè)圖像可以實(shí)時(shí)的保存在電腦或U盤等存儲(chǔ)器上；
③檢測(cè)結(jié)構(gòu)缺陷：對(duì)于一定空間分布的缺陷，或者具有一定厚度的缺陷，如焊縫氣泡、斷裂等缺陷的檢測(cè)；
2.射線檢測(cè)技術(shù)缺點(diǎn)：
①檢驗(yàn)成本較高；
②必須考慮安全防護(hù)。
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