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Windows 5.0操作系統(tǒng)
開機后不需校準就可直接測量
采用布魯克技術的XFlash?SDD檢測器
分析元素zui小從Mg開始，達40多種。
分析范圍：ppm級至50%以上(與礦樣種類有關)
實時分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能，控制光管的電壓和電流，使測量范圍更廣
測量*無損，不受樣品形狀限制
儀器自動校準，自動存儲測量數(shù)據(jù)，無需人工干預
主機一體化設計，高強度密封，防水、防塵，抗沖擊
可選擇一鍵式定時測量
內(nèi)置Bruker專業(yè)操作軟件，計算和顯示速度快
儀器適應高溫，低溫，潮濕，雨天、沙塵等惡劣環(huán)境
在開機狀態(tài)下長時間不測量時，儀器會自動進入待機狀態(tài)，以節(jié)省電源和保護儀器
X射線管耐用性強，采用Peltier半導體恒溫制冷技術更增加了使用壽命
選配GPS定位系統(tǒng)，可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖
*FP模式，適于各種礦石樣品，大大縮短現(xiàn)場工作時間。自動補償元素間干擾。
免費軟件升級
采礦和勘探-現(xiàn)地質化學分析：
勘探：
手持式礦石分析儀S1 TITAN輕質化、易攜帶的設計，*地方便了在勘探現(xiàn)場直接探測并定位有潛在礦產(chǎn)的區(qū)域，測量鉆孔巖心，判定礦床的深度和分布情況
礦石分析：
一旦發(fā)現(xiàn)礦產(chǎn)地點，手持式礦石分析儀S1 TITAN可快速分析礦床
礦石質量控制：
礦產(chǎn)定位且開始開采后，S1 TITAN可對每輛貨車內(nèi)的礦石進行檢測，提供礦石的詳細品級信息，為即將流入加工廠的礦石進行前期篩選，提高原料礦石的質量
加工和濃度分析：
礦石加工過程中，S1 TITAN可測定樣品的濃度
復原和整治：
當采礦作業(yè)進入尾聲，S1 TITAN可用于未了分析，并協(xié)助完成土地復原
KE主要分析礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦；
還可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿；粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層等。
領域：
勘查、巖芯檢測、開采過程控制、品位控制、環(huán)境分析
地質化學痕量測定：
痕量元素
礦石探途元素
土壤或沉積層中的污染物
修復檢查
催化轉化器
地質化學常量測定：
主要和微量元素
含金屬礦石
工業(yè)礦物
精礦
鋁土礦
測量范圍(Mg-U)
Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd,Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。
校準：
元素范圍：zui多可達45種元素，包括鎂、鋁、硅、磷和硫
通過標準樣品，進行多重特定基質校準
配備Bruker的連續(xù)自動增益校準（CAGC），需現(xiàn)場增益檢查
樣品制備：
可直接測量巖石表面，但是這類樣品質地不均勻，需要大量的數(shù)據(jù)采集才可實現(xiàn)有效的量化分析。反之，采用質地均勻的樣品（如磨細的粉末）能夠獲得更精確的分析結果。
*的解決方案是，把材料研磨成足夠細的粉末，壓制或輕巧成可復制、致密的樣品。現(xiàn)場可使用多種輔助研磨工具，直接從巖石表面手機粉末，或者把樣品“捶打"成所要求的粉末，再將粉末壓制成顆粒狀，即可使用S1TITAN進行分析。
環(huán)境條件：防護等級IP54：S1 TITAN在設計上課承受所有環(huán)境的縣長操作，包括潮濕及多塵的環(huán)境條件
密封式設計可防水防塵
采用橡膠模造，經(jīng)久耐用
可防止污染物及風沙侵入
樣本立架可用于測量小型及復雜樣本
操作溫度：-10℃至+50℃
樣本溫度（間歇性使用）：150℃用于Ultralene窗口，500℃用于Kapton窗口
馬上：，info@boyuesh.com
