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電子電路在線維修測試儀報(bào)價(jià)電子電路在線維修測試儀報(bào)價(jià) 型號:VV522-ICT4040UXPII庫號：M209638  

產(chǎn)品特點(diǎn)：

好的測試技術(shù)，好的驅(qū)動能力，故障原因的電路板皆可修好

友好簡單的中文操作界面

無需電路原理圖，不必知道器件型號，對電路板皆可快速維修

40/40×2路數(shù)字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫；

40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測試功能

電路板測試存儲功能，被測板可與之比較

通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測試。

本功能亦可通過學(xué)習(xí)記錄，比較分析來測試。

技術(shù)規(guī)格：

Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作 雙CPU工作，

功能測試40×2通道

VI曲線測試40×2通道

雙測試夾VI曲線測試

網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電

EPROM/RAM在線讀取

模擬器件 VI曲線測試

總線隔離信號

中文維修筆記

ICT系列檢測儀檢測

功能測試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開路門的測試

功能測試外供電源穩(wěn)定——各種大、中、小型被測電路板皆可測試

功能測試具有三態(tài)識別能力——可測三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障

V/I測試正負(fù)掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線

V/I測試六個掃描頻率——保證V/I曲線測試穩(wěn)定

V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類器件的V/I測試

集成電路在線功能測試

本功能采用后驅(qū)動隔離技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測74系列、

4000/45000邏輯IC、75系列接口IC及各種存儲器等千余種集成電路。 1、快速測試：直接

顯示測試結(jié)果，迅速確定可疑IC 2、分析測試：顯示測試過程，測試激勵。預(yù)期和實(shí)際響應(yīng)，幫助分析故障原因 3、器件識別：查找無標(biāo)記型號IC或同功能不同型號的IC。

集成電路在線狀態(tài)測試

通過好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC。1、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測試的激勵與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫中 2、狀態(tài)比較：同故障

板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞 3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫

中的各IC的狀態(tài)資料。

集成電路離線功能測試

離線測試IC功能好壞，自-動識別未知型號的芯片

V/I曲線測試

通過好壞板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點(diǎn)及故障IC 1、曲線學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)板上各節(jié)點(diǎn)的動態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數(shù)據(jù)庫中 2、曲線比較：同故障板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動態(tài)阻抗曲進(jìn)行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗(yàn)判定與此節(jié)點(diǎn)相關(guān)的IC

是否損壞 3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上各個節(jié)點(diǎn)的動態(tài)阻抗圖資料大規(guī)模

集成電路分析測試 網(wǎng)絡(luò)提取測試

使用戶方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系，；輔-助判斷芯片的好壞。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采

用了四種模式：

1、探棒對探捧（“棒"—“棒"模式）

2、探捧對測試夾（“棒"—“夾"模式）

3、測試夾對探捧（“夾"—“棒"模式）

4、測試夾對測試夾（“夾"—“夾"模式）

◆開發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明文件可以通過任何一個文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可

與相應(yīng)子測試關(guān)聯(lián)起來，隨時(shí)用熱鍵查看相應(yīng)說明文件。

1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法

a）在TVED圖形界面上直接建立

b）讀入DCL語言的編譯結(jié)果

2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對測試圖形加 以調(diào)整、修改。

3、4種測試方式：

a）執(zhí)行一個測試

b）執(zhí)行一個測試的一部分

c）循-環(huán)執(zhí)行

d）單步運(yùn)行

備注信息：

比舊款的4040/8080增加了以下功能：

網(wǎng)絡(luò)提取測試

使用戶方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系，；輔-助判斷芯片的好壞。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采

用了四種模式：

1、探棒對探捧（“棒"—“棒"模式）

2、探捧對測試夾（“棒"—“夾"模式）

3、測試夾對探捧（“夾"—“棒"模式）

4、測試夾對測試夾（“夾"—“夾"模式）

◆開發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明文件可以通過任何一個文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可與相應(yīng)子測試關(guān)聯(lián)起來，隨時(shí)用熱鍵查看相應(yīng)說明文件。

1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法

a）在TVED圖形界面上直接建立

b）讀入DCL語言的編譯結(jié)果

2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對測試圖形加 以調(diào)整、修改。

3、4種測試方式：

a）執(zhí)行一個測試

b）執(zhí)行一個測試的一部分

c）循-環(huán)執(zhí)行

d）單步運(yùn)行

操作系統(tǒng)的兼容性增-強(qiáng)