新型測量系統(tǒng)是利用射頻導納物位檢測技術，檢測由液位高度變化引起的電容和電導（所以稱為導納）變化來進行測量控制的。我們知道，對于一對平行的板狀導體有：c=KeA/d
其中c——電容
A——兩導體的對應面積
d——兩導體間的距離
K——導體間介質的相對介電常數(shù)
e——給定電介質在大氣中的介電常數(shù)
把真空和大部分氣體的介電常數(shù)作為一個基本單位，那么各種塑料的相對介電常數(shù)K通常在28內(nèi)，而高極性介質如水，其相對介電常數(shù)K高過80。射頻導納式液位計檢測由液位高度變化引起導納變化進行測量，可用于以下幾種情況：1、介電常數(shù)恒定的非導電性介質，此類測量中，電容值較小，采用三端子探頭時，測量結果不受溫度變化的影響；2、介電常數(shù)不穩(wěn)定的非導電性介質，此類測量中需兩根電極。一根參考電極總是浸沒在介質中，作為對介電常數(shù)的測量，通過特定變送器的運算后可得出與介電常數(shù)無關的測量值；3、非導電性介質但粘附探頭，對于此類測量，只要探頭與參考地（一般為容壁）的zui短距離大于粘附層厚度的l00倍，則由粘附層產(chǎn)生的誤差可忽略不計；4、導電性介質，但不粘附探頭，此時，必須在探頭上套*緣外套如TEF，介質介電常數(shù)對測量結果幾乎無影響，因為此時電容是由探頭與其外套絕緣體形成的電容器產(chǎn)生；5、導電性介質，且粘附探頭，這種情況下，變送器既可測量物位變化引起的導納變化，也可測量粘附物產(chǎn)生的導納，電路將兩種情況全考濾進去，通過特定變送器的運算后，產(chǎn)生一個與探頭上粘附層無關的液位讀數(shù)。當然對于清潔水的應用，不要求用這類系統(tǒng)，但對于污濁液體如酸、堿等則很有必要。
當傳感元件（電極探頭）結晶掛料部分形成了一個由眾多微電容及電阻元件組成的傳輸電路時，從電路分析來看，若掛料足夠長則其容性與阻性將具有相同數(shù)值的阻抗，利用這一特性，該新型測量系統(tǒng)變送單元采用一電路分別測量電阻與電容，此電路完成如下計算：總電容=液位電容十掛料電容一與掛料電容數(shù)值相等的電阻值，zui后得到的總電容僅與實際液位對應，將此總電容轉換成4—20mA標準電流信號輸出至DCS，從而實際上“忽略”了掛料的影響，即總電容zui后正比于實際液位高度。具體的公式推導較繁鎖，在此不做詳細探討。
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