日立透射電鏡樣品清洗儀Zone TEM II

日立Zone TEM II為透射電鏡樣品前處理裝置，利用臭氧/紫外快速清除樣品表面容易引起污染的碳氫化合物且不損傷樣品，限度上提高電鏡的觀察效果，還原材料的真實形貌。

• 1.      可快速無損傷清潔樣品表面污染物；
• 2.      Zone TEM適用范圍廣泛，可同時裝載3根或5根不同電鏡廠家的TEM、STEM、FIB樣品桿
• 3.      可同時用作樣品儲藏器保存樣品桿;
• 4.      無需額外的水、氣供給系統，占地空間小

應用領域： 

• 1.      樣品細節(jié)需要高分辨觀察或表面信息豐富，表面污染物易覆蓋；
• 2.      SE、BSE、TEM/STEM觀察時易產生碳沉積影響觀察的處理；

清洗實例: