首頁-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗儀產(chǎn)品應用:PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

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1．圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。
2．實驗開始前之真空動作可將原來箱內之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣（partical<1micorn）。以確保箱內之純凈度。
3．臨界點LIMIT方式自動安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。
4．精密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。
5．箱內壓力愈大時，設備會有反壓會使其與箱體更緊密結合，與傳統(tǒng)擠壓式*不同，可延老化箱壽命。
塑料片pct高壓加速老化箱使用條件：
溫度：5℃～+28℃（24小時內平均溫度≤28℃）
相對濕度：≤85%RH
氣壓：86kPa～106kPa
供電條件 三相四線+保護地線，電壓范圍：AC（380±38）V
頻率允許波動范圍：（50±0.5）Hz
保護地線接地電阻小于4Ω
主營產(chǎn)品:塑料片pct高壓加速老化箱-高壓加速老化試驗箱-鹽霧試驗箱-高低溫試驗箱-高溫恒溫試驗箱-紫外老化試驗箱-氙燈老化試驗箱-臭氧老化試驗箱-恒溫恒濕試驗箱-換氣式老化試驗箱-砂塵試驗箱-箱式淋雨試驗箱-冷熱沖擊試驗箱-振動試驗臺-霉菌培養(yǎng)箱-高溫試驗箱-低溫試驗箱-恒溫試驗箱-跌落試驗臺-三綜合試驗箱-二氧化硫腐蝕試驗
塑料片pct高壓加速老化箱產(chǎn)品用途：
塑料片pct高壓加速老化箱()又稱為高壓加速老化試驗箱，主要用于航空、航天、信息、電子等領域，確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設備在低氣壓、高溫、低溫單項或同時作用下的環(huán)境適應性與可靠性試驗，并或同時對試件通電進行電氣性能參數(shù)的測量。