Vanta Element-S手持式XRF分析儀
經(jīng)濟實用的XRF檢測
可以對元素進行分析，
Vanta Element-S手持式X射線熒光（XRF）分析儀可以在數(shù)秒鐘之內(nèi)可檢測出RCRA（《資源保護及恢復法案》）中所規(guī)定的危險性高含量元素、需優(yōu)先考慮的污染物質(zhì)，以及危險金屬。
Vanta Element-S手持式X射線熒光分析儀可用于根據(jù)以下方法或規(guī)程進行合規(guī)檢測：
- EPA 6200（美國環(huán)境保護署的方法6200）
- ISO/DIS13196（標準化組織/標準草案13196）
- 各種SOP（標準操作規(guī)程）
- NIOSH或OSHA方法中講述的樣本過濾分析法
- 表面篩查分析法
XRF分析儀的高級特性
Vanta Element分析儀具有連通性能，有助于簡化廢料金屬的回收和質(zhì)量控制過程。
準確且具有重復性的結(jié)果
Vanta分析儀的電子部件
Axon技術(shù)的穩(wěn)定性和計數(shù)率
方便的數(shù)據(jù)管理
具有無線連通性能（可選配），可方便地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡(luò)上的文件夾中
使用奧林巴斯的科學云系統(tǒng)可以實現(xiàn)云數(shù)據(jù)存儲，并可實時以遠程方式查看數(shù)據(jù)
直接將數(shù)據(jù)導出到USB驅(qū)動盤中
用于存儲結(jié)果的1 GB工業(yè)用microSD卡
堅固耐用
堅固耐用且經(jīng)濟實用的手持式XRF分析儀
這款分析儀可用于條件惡劣的環(huán)境中，且其擁有成本較低。
符合IP54評級標準，具有防塵和防潮的特性
通過了墜落測試（MIL-STD-810G），可避免分析儀在墜落時受到損壞，從而減少了對分析儀進行高成本維修的需求
經(jīng)過評定，在-10 °C到45 °C的溫度范圍內(nèi)，可以持續(xù)進行檢測
防磨不銹鋼面板
堅固，較厚的（50 µm）聚酰亞胺窗口可對分析儀起到保護作用
無需使用工具即可方便更換的窗口
