布魯克 D8 達芬奇 X射線衍射儀
布魯克D8達芬奇X射線衍射儀
型號:D8 Advance
產(chǎn)地:德國
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術,使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!
*的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。
技術指標:
- Theta/theta 立式測角儀
- 2Theta角度范圍:-110～168°
- 角度精度:0.0001度
- Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管
- 探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
- 儀器尺寸:1868x1300x1135mm
- 重量:770kg
應用
- 物相定性分析
- 結晶度及非晶相含量分析
- 結構精修及解析
- 物相定量分析
- 點陣參數(shù)精確測量
- 無標樣定量分析
- 微觀應變分析
- 晶粒尺寸分析
- 原位分析
- 殘余應力
- 低角度介孔材料測量
- 織構及ODF分析
- 薄膜掠入射
- 薄膜反射率測量
- 小角散射
