HP4287A
深圳市宏泰電子儀器有限公司
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HP4287A射頻測(cè)試儀LCR在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確，可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反向測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。

《電橋回收HP4287A》 阻抗測(cè)量范圍寬，從200mΩ到3KΩ
《電橋回收HP4287A》 在低測(cè)度信號(hào)電平上具有優(yōu)良的測(cè)量重復(fù)性
《電橋回收HP4287A》 基本精度為1%
《電橋回收HP4287A》 高速測(cè)量9ms
《電橋回收HP4287A》 射頻測(cè)試儀

HP4287A適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量非?？?。此外，在小測(cè)試電流(100μA)優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^程非常短。

HP4287A系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單
測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件點(diǎn)測(cè)件接點(diǎn)附近，而不會(huì)使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能，高速GPIB處理器接口可用來簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可

以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。